调测装置、调测热敏头阻值的方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种调测装置及调测热敏头阻值的方法。其中，一种调测装置，用于测量和调试热敏头的阻值，调测装置包括：控制器；电源组件，连接热敏头和控制器，电源组件设置有低压脉冲电源和高压脉冲电源；电阻测试装置，连接热敏头和控制器。本发明专利技术提供的调测装置，通过脉冲电压高频放电法和脉冲电压高温氧化法两种方法的相互结合，对发热电阻实现双向调阻，使厚膜热敏头发热电阻具有良好的阻值一致性，满足高精度的要求，并且结构简单，操作方便，过程可逆，降低了生产成本，极大提升了产品质量和生产效率。

【技术实现步骤摘要】
调测装置、调测热敏头阻值的方法
本专利技术涉及厚膜热敏打印头
，具体而言，涉及一种调测装置、一种调测热敏头阻值的方法。
技术介绍
随着热敏打印市场的需求量不断增加，厚膜热敏头作为热敏打印机的核心部件，其产品质量将直接影响最终的打印效果和企业的生产成本。而提升厚膜热敏头产品良率的关键之处便在于如何最大程度地降低热敏打印头中各个发热电阻之间的阻值偏差，以保证较好的阻值均一性。因此，调阻与测阻是制造厚膜热敏头过程中必不可少的工艺环节。关于调阻，由于厚膜热敏头电阻宽度较窄，常用的激光调阻难以对其实现精确的调整，而脉冲调阻技术是厚膜电阻微调方法中的一种技术，其又分为脉冲电压高温氧化法和脉冲电压高频放电法，均具有高精度、高效率的特点。测阻方面，通常采用普通的万用表对电阻器的阻值进行直接测量以检验是否符合标准，但是由于厚膜热敏头电路的宽度仅为几十微米，并且不同规格的厚膜热敏头中存在几百至几千个小的发热电阻，这种直接测量的方法难以适用。相关技术采用脉冲电压高频放电法实现了对热敏头发热电阻的精确调阻，提高了生产效率和产品成品率，可是该调阻方法为单向调阻，容错率较低，并且在调阻与测阻的过程中仅对单点电阻进行，难以满足更高的生产效率。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术的一方面在于提出了一种调测装置。本专利技术的另一方面在于提出了一种调测热敏头阻值的方法。有鉴于此，本专利技术提出了一种调测装置，用于测量和调试热敏头的阻值，调测装置包括：控制器；电源组件，连接热敏头和控制器，电源组件设置有低压脉冲电源和高压脉冲电源；电阻测试装置，连接热敏头和控制器。根据本专利技术的调测装置，包括电源组件、控制器、电阻测试装置以及测温装置，其中，电源组件包括高压脉冲电源与低压脉冲电源，分别与控制器相连，电阻测试装置与控制器相连。通过电阻测试装置对热敏头发热电阻的阻值进行采集，在发热电阻的阻值大于目标阻值的上限值时，将高压脉冲电源加载至该发热电阻两端，以通过脉冲电压高频放电法对该发热电阻的阻值进行修正。在经过一定的脉冲加载时间后，一次调阻完毕，此时电阻测试装置对调阻后的发热电阻进行重新测量，以上述同样的方式进行下一次的调阻。经过上述高压脉冲调阻后，发热电阻阻值应基本可以满足厚膜热敏头的规格要求。当出现阻值过调的现象时，即阻值低于目标阻值的下限值时，需要对该发热电阻进行进一步地微调，此时，关闭高压脉冲电源，打开低压脉冲电源，将低压脉冲电源加载至阻值过调的发热电阻两端，以通过脉冲加热升温的方式提升发热电阻的阻值，完成发热电阻的二次调阻，最终使所有发热电阻均符合产品的规格要求。本专利技术提供的调测装置，通过脉冲电压高频放电法和脉冲电压高温氧化法两种方法的相互结合，对发热电阻实现双向调阻，使厚膜热敏头发热电阻具有良好的阻值一致性，满足高精度的要求，并且结构简单，操作方便，过程可逆，降低了生产成本，极大提升了产品质量和生产效率。其中，优选地，控制器与电阻测试装置相连通过通讯接口相连。在上述技术方案中，优选地，调测装置还包括：测温装置，连接热敏头和控制器。在该技术方案中，调阻时，由测温装置实时观察发热电阻的温度，在经过一定的脉冲加载时间后，温度降低至要求的温度范围之内时，表示一次调阻完毕，此时电阻测试装置对调阻后的发热电阻进行重新测量，以上述同样的方式进行下一次的调阻。在上述任一技术方案中，优选地，控制器包括：多个继电器和多路输出接口，多个继电器与多路输出接口相连接。在该技术方案中，控制器具有多路输出接口，多个继电器设于控制器中，多个继电器与多路输出接口相连接，高压脉冲电源和低压脉冲电源与控制器相连，脉冲电压通过闭合的继电器加载至需要修正的发热电阻两端，对发热电阻进行修正，实现多路同时进行对热敏头发热电阻阻值的修正，进一步地提升了产品的生产效率。在上述任一技术方案中，优选地，电阻测试装置包括：电阻测试部，包括多路测量接口；探针排，连接电阻测试部和热敏头，探针排包括多个探针，多个探针的数量与多路测量接口的数量和多路输出接口的数量相同。在该技术方案中，电阻测试装置包括电阻测试部和探针排，通过探针排连接电阻测试部和热敏头。其中，电阻测试部具有多路测量接口，探针排由多个探针组成，探针的数量与多路测量接口的数量以及控制器的多路输出接口的数量相同，电阻测试部通过探针排对热敏头的多个发热电阻的阻值同时进行测量，并将测量值与目标阻值进行比较，再将比较结果传输至控制器，控制器根据比较结果控制继电器的通断。其中，测量值大于目标阻值的上限值或低于目标阻值的下限值则继电器闭合，高压脉冲电源或低压脉冲电源通过闭合的继电器(断开的继电器无法通过)，经探针排加载至需要修正的发热电阻两端，对发热电阻进行修正。本专利技术集中了对热敏头发热电阻阻值修正和阻值测量的功能，大大简化了发热电阻调测装置的整体结构，并且在调阻和测阻的过程中，可以多路同时进行对热敏头发热电阻阻值的调测，进一步地提升了产品的生产效率。其中，优选地，电阻测试部为电阻测试仪。在上述任一技术方案中，优选地，多个探针中的每个探针包括两个输入端口，分别连接至多路输出接口和电阻测试部的多路测量接口。在上述任一技术方案中，优选地，调测装置还包括：提醒装置，连接控制器和电源组件。在该技术方案中，调测装置还包括提醒装置，当发热电阻的阻值高于目标阻值的上限值或低于目标阻值的下限值时，以及在调阻时，发热电阻的温度高于要求的温度范围时，可相应的发出提醒，实现对热敏头阻值的直观监测；当调阻后的阻值满足厚膜热敏头的规格要求时，也可相应的发出提醒，以采取相应的措施。在上述任一技术方案中，优选地，多个探针的数量至少为8个。在该技术方案中，本领域技术人员应该理解，探针的数量至少为8个，但不限于此。只要满足探针排中的多个探针与热敏头上的多个发热电阻一一对应，且多路输出接口与多路测量接口的通道数与探针数相一致，都是可以实现的。本专利技术还提出了一种调测热敏头阻值的方法，用于如上述技术方案中任一项的调测装置，方法包括：检测热敏头的多个发热电阻中的每个发热电阻的阻值；确定多个发热电阻的阻值中大于目标阻值的上限值的目标发热电阻，控制与目标发热电阻相对应的继电器闭合，以使高压脉冲电源加载在目标发热电阻的两端；以及控制高压脉冲电源按照第一预设参数对目标发热电阻的阻值进行调整，以使目标发热电阻的阻值按照预设幅度降低。根据本专利技术的调测热敏头阻值的方法，通过检测热敏头的多个发热电阻中每个发热电阻的阻值，并将其与目标阻值进行比较，确定多个发热电阻的阻值中大于目标阻值的上限值的目标发热电阻，控制与目标发热电阻相对应的继电器闭合，使高压脉冲电源通过闭合的继电器加载至目标发热电阻的两端，并控制高压脉冲电源按照第一预设参数对目标发热电阻的阻值进行修正，其中第一预设参数应保证目标发热电阻的阻值在一次调阻过程后下降预设幅度。通过本专利技术的技术方案，实现多路同时对热敏头发热电阻阻值的测量与修正，使热敏头发热电阻具有良好的阻值一致性，满足高精度的要求，并且操作方便，降低了生产成本，极大提升了产品质量和生产效率。在上述技术方案中，优选地，该方法还包括：控制高压脉冲电源按照第一预设参数对目标发热电阻的阻值进行调整的同时，检测发热电阻的温度；在温度处于预设温度范本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种调测装置，用于测量和调试热敏头的阻值，其特征在于，所述调测装置包括：控制器；电源组件，连接所述热敏头和所述控制器，所述电源组件设置有低压脉冲电源和高压脉冲电源；电阻测试装置，连接所述热敏头和所述控制器。

【技术特征摘要】
1.一种调测装置，用于测量和调试热敏头的阻值，其特征在于，所述调测装置包括：控制器；电源组件，连接所述热敏头和所述控制器，所述电源组件设置有低压脉冲电源和高压脉冲电源；电阻测试装置，连接所述热敏头和所述控制器。2.根据权利要求1所述的调测装置，其特征在于，还包括：测温装置，连接所述热敏头和所述控制器。3.根据权利要求1所述的调测装置，其特征在于，所述控制器包括：多个继电器和多路输出接口，所述多个继电器与所述多路输出接口相连接。4.根据权利要求3所述的调测装置，其特征在于，所述电阻测试装置包括：电阻测试部，包括多路测量接口；探针排，连接所述电阻测试部和所述热敏头，所述探针排包括多个探针，所述多个探针的数量与多路测量接口的数量和所述多路输出接口的数量相同。5.根据权利要求4所述的调测装置，其特征在于，所述多个探针中的每个探针包括两个输入端口，分别连接至所述多路输出接口和所述电阻测试部的多路测量接口。6.根据权利要求1至5中任一项所述的调测装置，其特征在于，所述调测装置还包括：提醒装置，连接所述控制器和所述电源组件。7.根据权利要求5所述的调测装置，其特征在于，所述多个探针的数量至少为8个。8.一种调测热敏头阻值的方法，用于如权利要求3至6中任一项所述的调测装置，其特征在于，所述方法包括：检测所述热敏头的多个发热电阻中的每个所述发热电阻的阻值...

【专利技术属性】
技术研发人员：王泉，肖经，韦启钦，陈时荣，孙鹏，
申请(专利权)人：广州四为科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44