一种应变测试系统及方法技术方案

本发明专利技术公开一种应变测试系统及方法，本发明专利技术通过获取待测设备周围环境的干扰信号，然后根据环境干扰信号对测试信号进行修正，从而得到消除环境干扰的测试信号数据，继而有效解决了现有方法在电磁环境较恶劣的情况下，不能分辨本体信号和干扰信号的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种应变测试系统及方法
本专利技术涉及通信
，具体而言，涉及一种应变测试系统及方法。
技术介绍
在机械设备生产测试中，常采用应变测试仪对设备关键零件进行应变测试，以评估设备运行时振动振幅、速度、加速度等是否控制在材料本身疲劳强度范围内，以确保设备运行可靠。应变测试仪在实际使用中，由于应变片与信号处理模块往往采用较长信号线连接，其电信号受测试环境电磁干扰影响较大，常常采用电容滤波、测试接地等方法来屏蔽干扰。但是在电磁环境较恶劣的情况下，如存在高频激波时，上述屏蔽电磁干扰的方法往往得不到较理想的屏蔽效果，例如，在高频干扰时，就无法分辨本体信号和干扰信号。而且这种情况在其他电信号测量上也存在。针对现有技术中在电磁环境较恶劣等情况下，现有方法不能分辨本体信号和干扰信号的难题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本专利技术实施例中提供一种应变测试系统及方法，以解决在电磁环境较恶劣等情况下，现有方法不能分辨本体信号和干扰信号的难题。为解决上述技术问题，本专利技术一方面提供了一种应变测试系统，所述系统包括：设置在待测设备上的测试装置，用于获取待测设备的测试信号；独立于所述待测设备之外的干扰测试装置，用于获取所述待测设备预设范围内环境的干扰信号；上位机，用于根据所述干扰信号对所述测试信号进行修正，得到消除环境干扰后的测试数据。进一步地，所述测试装置所在的测试点与所述干扰测试装置所在的干扰测试点处于同一水平位置且相距预设距离。进一步地，所述系统还包括：第一信号线，用于将所述测试装置获取的测试信号发送给所述上位机；第二信号线，用于将所述干扰测试装置获取的干扰信号发送给所述上位机；所述第一信号线与所述第二信号线平行设置，且路径一致。进一步地，所述系统还包括：干扰测试点支架，安装在独立于所述待测设备的无振动建筑结构或地面上，用于固定所述干扰测试装置。进一步地，所述测试装置是测试点应变片，贴于所述待测设备的测试点表面；所述干扰测试装置是干扰测试点应变片，设置在所述干扰测试点上。进一步地，所述干扰测试点与所述测试点的材质相同。进一步地，所述测试装置为热电偶或感温包，设置在所述待测设备的测试点上；所述干扰测试装置为热电偶或感温包，设置在所述干扰测试点上。进一步地，所述系统还包括信号处理模块；所述信号处理模块，用于采集所述测试装置获取的测试信号，以及所述干扰测试装置获取的干扰测试信号，并将所述测试信号和所述干扰测试信号发送给所述上位机；所述上位机，用于显示所述测试信号和所述干扰信号，并对所述测试信号和所述干扰信号进行取样计算，得到测试点数据和干扰测试点数据，并将所述测试点数据去除所述干扰测试点数据得到消除环境干扰后的测试数据。进一步地，所述上位机，还用于对多个所述测试点数据求平均值，对多个所述干扰测试点数据求平均值，将求平均值之后的测试点数据去除干扰测试点数据得到消除环境干扰后的测试数据。进一步地，所述上位机，还用于对所述干扰信号进行傅里叶变换，分辨出所述干扰信号的电磁干扰频率，并在所述测试信号中对所述电磁干扰频率进行屏蔽，得到消除环境干扰后的测试数据。本专利技术另一方面提供了一种应变测试方法，应用于上述任意一种所述的应变测试系统，所述方法包括：获取待测设备的测试信号；以及，获取所述待测设备预设范围内环境的干扰信号；根据所述干扰信号对所述测试信号进行修正，得到消除环境干扰后的测试数据。进一步地，获取待测设备的测试信号；以及，获取所述待测设备预设范围内环境的干扰信号之后，所述方法还包括：通过第一信号线将获取的测试信号发送给上位机；以及，通过第二信号线将获取的干扰信号发送给所述上位机；根据所述干扰信号对所述测试信号进行修正，具体包括：通过所述上位机根据所述干扰信号对所述测试信号进行修正；其中，所述第一信号线与所述第二信号线平行设置，且路径一致。进一步地，所述获取待测设备的测试信号，具体包括：通过测试点应变片获取所述待测设备的测试信号；其中，所述测试点应变片设置在所述待测设备的测试点表面；所述获取所述待测设备周围环境的干扰信号，具体包括：通过干扰测试点应变片获取所述待测设备周围环境的干扰信号，其中，所述干扰测试点应变片设置在独立于所述待测设备之外的干扰测试点上；其中，所述测试点与所述干扰测试点处于同一水平位置且相距预设距离。进一步地，所述获取待测设备的测试信号，具体包括：通过设置在所述待测设备的测试点上的热电偶或感温包获取待测设备的测试信号；所述获取所述待测设备周围环境的干扰信号，具体包括：通过设置在独立于所述待测设备之外的干扰测试点上的热电偶或者感温包，获取所述待测设备周围环境的干扰信号；其中，所述测试点与所述干扰测试点处于同一水平位置且相距预设距离。进一步地，所述根据所述干扰信号对所述测试信号进行修正，得到消除环境干扰后的测试数据，具体包括：对获取的所述测试信号和所述干扰信号进行采集；对所述测试信号和所述干扰信号进行取样计算，得到测试点数据和干扰测试点数据；将所述测试点数据去除所述干扰测试点数据得到消除环境干扰后的测试数据。进一步地，所述将所述测试点数据去除所述干扰测试点数据得到消除环境干扰后的测试数据，具体包括：对多个所述测试点数据求平均值，对多个所述干扰测试点数据求平均值，将求平均值之后的测试点数据去除干扰测试点数据得到消除环境干扰后的测试数据。进一步地，所述根据所述干扰信号对所述测试信号进行修正，得到消除环境干扰后的测试数据，具体包括：对所述干扰信号进行傅里叶变换，分辨出所述干扰信号的电磁干扰频率；在所述测试信号中对所述电磁干扰频率进行屏蔽，得到消除环境干扰后的测试数据。应用本专利技术的技术方案，通过获取待测设备周围环境的干扰信号，然后根据环境干扰信号对测试信号进行修正，从而得到消除环境干扰的测试信号数据，继而有效解决了在电磁环境较恶劣等情况下，现有方法不能分辨本体信号和干扰信号的问题，对测试信号进行修正，有效屏蔽干扰。附图说明图1是本专利技术实施例的消除环境干扰的测试系统的结构示意图；图2是现有应变测试仪的结构示意图；图3是本专利技术实施例的消除环境干扰的测试系统的结构示意图；图4是本专利技术实施例的消除环境干扰的测试方法的流程示意图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步详细描述，但不作为对本专利技术的限定。图1是根据本专利技术实施例的一种应变测试系统，如图1所示，该系统包括：设置在待测设备8上的测试装置1，用于获取待测设备8的测试信号；独立于所述待测设备8之外的干扰测试装置2，用于获取所述待测设备8预设范围内环境的干扰信号；上位机3，用于根据所述干扰信号对所述测试信号进行修正，得到消除环境干扰后的测试信号数据。也就是说，本专利技术实施例通过设置一个独立的干扰测试装置2，并通过干扰测试装置2来获取待测设备8周围环境的干扰信号，然后由上位机3根据环境干扰信号对测试信号进行修正，从而得到消除环境干扰的测试信号数据，继而有效解决了在电磁环境较恶劣等环境下，现有方法不能分辨本体信号和干扰信号的问题。即，本专利技术实施例的核心就是通过干扰测试装置2来采集环境干扰信号，最后在信号处理时，针对该干扰信号进行处理，从而实现完全屏蔽干扰信号。需要说明的是，本专利技术实施例所述的测试信号包括应变测试信号以及其他各种易受电磁等环境干扰的电信号等等，例如，热电偶本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种应变测试系统，其特征在于，所述系统包括：设置在待测设备上的测试装置，用于获取待测设备的测试信号；独立于所述待测设备之外的干扰测试装置，用于获取所述待测设备预设范围内环境的干扰信号；上位机，用于根据所述干扰信号对所述测试信号进行修正，得到消除环境干扰后的测试数据。

【技术特征摘要】
1.一种应变测试系统，其特征在于，所述系统包括：设置在待测设备上的测试装置，用于获取待测设备的测试信号；独立于所述待测设备之外的干扰测试装置，用于获取所述待测设备预设范围内环境的干扰信号；上位机，用于根据所述干扰信号对所述测试信号进行修正，得到消除环境干扰后的测试数据。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试装置所在的测试点与所述干扰测试装置所在的干扰测试点处于同一水平位置且相距预设距离。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：第一信号线，用于将所述测试装置获取的测试信号发送给所述上位机；第二信号线，用于将所述干扰测试装置获取的干扰信号发送给所述上位机；所述第一信号线与所述第二信号线平行设置，且路径一致。4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：干扰测试点支架，安装在独立于所述待测设备的无振动建筑结构或地面上，用于固定所述干扰测试装置。5.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述测试装置是测试点应变片，贴于所述待测设备的测试点表面；所述干扰测试装置是干扰测试点应变片，设置在所述干扰测试点上。6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述干扰测试点与所述测试点的材质相同。7.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述测试装置为热电偶或感温包，设置在所述待测设备的测试点上；所述干扰测试装置为热电偶或感温包，设置在所述干扰测试点上。8.根据权利要求1-7中任意一项所述的系统，其特征在于，所述系统还包括信号处理模块；所述信号处理模块，用于采集所述测试装置获取的测试信号，以及所述干扰测试装置获取的干扰测试信号，并将所述测试信号和所述干扰测试信号发送给所述上位机；所述上位机，用于显示所述测试信号和所述干扰信号，并对所述测试信号和所述干扰信号进行取样计算，得到测试点数据和干扰测试点数据，并将所述测试点数据去除所述干扰测试点数据得到消除环境干扰后的测试数据。9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述上位机，还用于对多个所述测试点数据求平均值，对多个所述干扰测试点数据求平均值，将求平均值之后的测试点数据去除干扰测试点数据得到消除环境干扰后的测试数据。10.根据权利要求1-7中任意一项所述的系统，其特征在于，所述上位机，还用于对所述干扰信号进行傅里叶变换，分辨出所述干扰信号的电磁干扰频率，并在所述测试信号中对所述电磁干扰频率进行屏蔽，得到消除环境干扰后的测试数据。11.一种应变测试方法，应用于权利要求1至10中任一项所述的应变测试系统，其特征在于，所述方法包括：获取待测设备的测试信号；以及，获取所述待测设...

【专利技术属性】
技术研发人员：周堂，张治平，李宏波，周宇，华超，
申请(专利权)人：珠海格力电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44