【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】可见性信息修改
本专利技术涉及图形处理。
技术介绍
计算装置常常利用图形处理单元(GPU)加速再现用于显示的图形数据。此类计算装置可包含(例如)计算机工作站、例如所谓的智能电话等移动电话、嵌入系统、个人计算机、平板计算机及视频游戏控制台。GPU通常执行图形处理管线,所述图形处理管线包含一起操作以执行图形处理命令的多个处理级。主机中央处理单元(CPU)可通过将一或多个图形处理命令发布给GPU来控制GPU的操作。现代的CPU通常能够同时执行多个应用,所述多个应用中的每一者可需要在执行期间利用GPU。提供用于在电子显示器上视觉呈现的内容的装置通常包含图形处理单元(GPU)。GPU将表示内容的像素再现在显示器上。GPU产生显示器上的每一像素的一或多个像素值且对显示器上的每一像素的像素值执行图形处理以再现每一像素以用于呈现。
技术实现思路
大体来说,本专利技术描述用于再现图形数据的技术。举例来说,本专利技术的一或多种技术包含修改可见性信息以在例如基于图块的再现中优化再现。在一个实例中,本专利技术描述一种方法,所述方法包括:将用以从视点表示3D场景的2D空间划分为多个图块,其中所述3D场景包含多个基元;产生所述多个图块中的第一图块的可见性信息,其中所述第一图块的所述可见性信息包含用于所述多个基元中的每一基元的值,其中用于每一基元的所述值是第一值或第二值,且其中所述第一值指示所述第一值相关联的基元将不再现;修改所述第一图块的所述可见性信息以产生所述第一图块的经修改可见性信息;以及使用所述第一图块的所述经修改可见性信息产生所述2D场景。在另一实例中,本专利技术描述一种装置,其 ...
【技术保护点】
1.一种用于将图形数据的3D场景再现为2D场景的方法,所述方法包括:将用以从视点表示所述3D场景的2D空间划分为多个图块,其中所述3D场景包含多个基元;产生所述多个图块中的第一图块的可见性信息,其中所述第一图块的所述可见性信息包含用于所述多个基元中的每一基元的值,其中用于每一基元的所述值是第一值或第二值,且其中所述第一值指示所述第一值相关联的基元将不再现;修改所述第一图块的所述可见性信息以产生所述第一图块的经修改可见性信息;以及使用所述第一图块的所述经修改可见性信息产生所述2D场景。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.03.10 US 15/066,5841.一种用于将图形数据的3D场景再现为2D场景的方法,所述方法包括:将用以从视点表示所述3D场景的2D空间划分为多个图块,其中所述3D场景包含多个基元;产生所述多个图块中的第一图块的可见性信息,其中所述第一图块的所述可见性信息包含用于所述多个基元中的每一基元的值,其中用于每一基元的所述值是第一值或第二值,且其中所述第一值指示所述第一值相关联的基元将不再现;修改所述第一图块的所述可见性信息以产生所述第一图块的经修改可见性信息;以及使用所述第一图块的所述经修改可见性信息产生所述2D场景。2.根据权利要求1所述的方法,其中修改所述可见性信息包括将分别对应于所述第一图块的所述可见性信息的至少一个基元的至少一个第二值修改为所述第一值。3.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:在第一光栅化遍次期间第一次光栅化所述第一图块以产生经光栅化第一图块;使用在所述第一光栅化遍次期间产生的所述经光栅化第一图块执行第一可见性测试;以及基于所述第一可见性测试产生所述第一图块的所述可见性信息。4.根据权利要求3所述的方法,其进一步包括:在第二光栅化遍次期间第二次光栅化所述第一图块以产生经光栅化第一图块;使用在所述第二光栅化遍次期间产生的所述经光栅化第一图块执行第二可见性测试;以及基于所述第二可见性测试修改所述第一图块的所述可见性信息。5.根据权利要求4所述的方法,其进一步包括:根据第一光栅化像素粒度水平在所述第一光栅化遍次期间光栅化所述第一图块;以及根据第二光栅化像素粒度水平在所述第二光栅化遍次期间光栅化所述第一图块,其中所述第二光栅化像素粒度水平小于或等于所述第一光栅化像素粒度水平。6.根据权利要求4所述的方法,其中所述第一可见性测试包含具有第一像素粒度水平的第一z测试且所述第二可见性测试包含具有第二像素粒度水平的第二z测试,其中所述第二像素粒度水平小于或等于所述第一像素粒度水平。7.根据权利要求6所述的方法,其中所述第一可见性测试包含低分辨率z测试且所述第二可见性测试包含高分辨率z测试。8.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:在针对所述第一图块执行完整顶点着色之前修改所述第一图块的所述可见性信息。9.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:在修改所述第一图块的所述可见性信息之前第一次和第二次光栅化所述第一图块;以及在修改所述第一图块的所述可见性信息之后第三次光栅化所述第一图块。10.一种装置,其包括:存储器,其用于存储经再现图形数据;以及一或多个处理器,其经配置以:将用以从视点表示3D场景的2D空间划分为多个图块,其中所述3D场景包含多个基元;产生所述多个图块中的第一图块的可见性信息,其中所述第一图块的所述可见性信息包含用于所述多个基元中的每一基元的值,其中用于每一基元的所述值是第一值或第二值,且其中所述第一值指示所述第一值相关联的基元将不再现;修改所述第一图块的所述可见性信息以产生所述第一图块的经修改可见性信息;使用所述第一图块的所述经修改可见性信息产生2D场景;以及将所述2D场景存储于所述存储器中。11.根据权利要求10所述的装置,其中所述一或多个处理器经配置以修改所述可见性信息包括所述一或多个处理器经配置以将分别对应于所述第一图块的所述可见性信息的至少一个基元的至少一个第二值修改为所述第一值。12.根据权利要求10所述的装置,其中所述一或多个处理器经配置以:在第一光栅化遍次期间第一次光栅化所述第一图块以产生经光栅化第一图块;使用在所述第一光栅化遍次期间产生的所述经光栅化第一图块执行第一可见性测试;以及基于所述第一可见性测试产生所述第一图块的所述可见性信息。13.根据权利要求12所述的装置,其中所述一或多个处理器经配置以:在第二光栅化遍次期间第二次光栅化所述第一图块以产生经光栅化第一图块;使用在所述第二光栅化遍次期间产生的所述经光栅化第一图块执行第二可见性测试;以及基于所述第二可见性测试修改所述第一图块的所述可见性信息。14.根据权利要求13所述的装置,其中所述一或多个处理器经配置以:根据第一光栅化像素粒度水平在所述第一光栅化遍次期间光栅化所述第一图块;以及根据第二光栅化像素粒度水平在所述第二光栅化遍次期间光栅化所述第一图块,其中所述第二光栅化像素粒度水平小于或等于所述第一光栅化像素粒度水平。15.根据权利要求14所述的装置,其中所述第一可见性测试包含低分辨率z测试且所述第二可见性测试包含高分辨率z测试。16.根据权利要求10所述的装置,其中所述一或多个处理器经配置以:在针对所述第一图块执行完整顶点着色之前修改所述第一图...
【专利技术属性】
技术研发人员:V·戈尔,吴瑞金,姚永仁,
申请(专利权)人:高通股份有限公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
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