The invention discloses a temperature measurement method for material photothermal effect, which relates to the technical field of temperature measurement. It includes: using laser irradiation to irradiate FBG, measuring the first offset of resonance wavelength caused by temperature rise of FBG under laser irradiation, coating the material to be measured on the surface of FBG, and using the same method. The second offset of resonance wavelength of FBG is measured by laser irradiation of FBG, and the temperature variation of the material to be measured by laser irradiation is determined according to the first offset lambda 1 and the second offset lambda 2. The invention provides a temperature measurement method for material photothermal effect, which has simple structure, easy realization and high measurement accuracy, and is suitable for real-time detection of local photothermal temperature change at the interface of material and optical fiber.
【技术实现步骤摘要】
一种材料光致热效应的温度测量方法
本专利技术涉及温度测量
,尤其涉及一种材料光致热效应的温度测量方法。
技术介绍
光热效应是材料的一种重要性质。材料的光热效应在医学治疗、磁存储等领域具有良好的应用前景。传统的材料光致热效应的温度变化测量一般可利用热电偶、热敏电阻温度计、热成像仪等设备,这类传感器敏感度较低、无法实现微区局域温度测量。为了实现材料光热导致的微区局部温度的测量,人们开发出了测量方法,主要有光学干涉法、热透镜法、光热外差法,这三种方法分别采用了局部温度升高所导致的相位、折射率等变化所导致的干涉信号和散射和投射光信号的变化来监测,精度较高,但设备精密昂贵。此外还有荧光和拉曼分子探针法,利用敏感分子的荧光和拉曼信号对温度敏感的特点实现局部温度的间接测量。这种方法的测量需要对探针分子要求很高,需要对温度进行精确的标定。综上所述,目前材料光致热效应的温度变化测量方法具有如下缺陷:测量的敏感度较低、无法实现微区局域温度测量,测量设备昂贵或实现难度高。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于,针对现有技术的上述不足,提出一种材料光致热效应的温度测量方法,结构简单、易于实现,测量精度高,适用于对材料与光纤等衬底界面处局部光致热效应的温度变化的实时检测。为了解决上述技术问题,本申请提出了一种材料光致热效应的温度测量方法。所述材料光致热效应的温度测量方法包括:使用激光照射光纤光栅,测量光纤光栅在激光照射下温度升高引起的共振波长的第一偏移量Δλ1;将待测材料包覆在光纤光栅的表面,并使用同样的激光照射光纤光栅,测量光纤光栅共振波长的第二偏移量Δλ2;根据第一 ...
【技术保护点】
1.一种材料光致热效应的温度测量方法,其特征在于,包括:使用激光照射光纤光栅,测量光纤光栅在激光照射下温度升高引起的共振波长的第一偏移量Δλ1;将待测材料包覆在光纤光栅的表面,并使用同样的激光照射光纤光栅,测量光纤光栅共振波长的第二偏移量Δλ2;根据第一偏移量Δλ1和第二偏移量Δλ2,确定激光照射使待测材料产生的温度变化量。
【技术特征摘要】
1.一种材料光致热效应的温度测量方法,其特征在于,包括:使用激光照射光纤光栅,测量光纤光栅在激光照射下温度升高引起的共振波长的第一偏移量Δλ1;将待测材料包覆在光纤光栅的表面,并使用同样的激光照射光纤光栅,测量光纤光栅共振波长的第二偏移量Δλ2;根据第一偏移量Δλ1和第二偏移量Δλ2,确定激光照射使待测材料产生的温度变化量。2.根据权利要求1所述的材料光致热效应的温度测量方法,其特征在于,所述共振波长为经过光纤光栅反射的反射光的波长。3.根据权利要求1或2所述的材料光致热效应的温度测量方法,其特征在于,所述第一偏移量Δλ1和第二偏移量Δλ2的测量方式为:宽带光源发出的光经光纤光栅反射输入光谱分析仪,光谱分析仪测量出反射光的偏移量。4.根据权利要求1所述的材料光致...
【专利技术属性】
技术研发人员:程培红,赵洪霞,安鹏,袁红星,汪玲芳,魏鑫梁,吴娜,
申请(专利权)人:宁波工程学院,
类型:发明
国别省市:浙江,33
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