验证检查部是否异常的方法、检查台及检查系统技术方案

公开一种验证检查部是否异常的方法、检查台及检查系统。本发明专利技术的方法包括：提供在附着于检查系统的框架上形成的验证基准体的步骤；使所述检查部位于所述验证基准体上的步骤；通过所述检查部而获得所述验证基准体的影像数据的步骤；从所述影像数据提取所述检查部的移动误差及高度误差并验证所述检查部是否异常的步骤；生成代表所述检查部是否异常的验证结果的步骤。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】验证检查部是否异常的方法、检查台及检查系统
本专利技术涉及验证检查部是否异常的方法、检查台及检查系统。
技术介绍
一般而言，在电子装置内至少具备一个印刷电路板(printedcircuitboard；PCB)，在这种印刷电路板上贴装有电路图案、连接焊盘部、与连接焊盘部电气连接的驱动芯片等多样的元件。在印刷电路板上贴装有电子部件的贴装基板正在用于多样的电子制品。这种贴装基板通过在裸基板的焊盘区域涂布铅后使电子部件的端子结合于铅涂布区域的方式制造。基板检查系统在将电子部件贴装于印刷电路板之前，执行检查铅是否正确涂布于印刷电路板的焊盘区域的焊膏检查(solderpasteinspection,SPI)工序，或在将电子部件贴装于印刷电路板后，执行检测电子部件是否正确软钎焊于印刷电路板等多样类型不良的自动光学检查(automatedopticalinspection,AOI)工序。以往，使用者确认检查对象的检查结果，如果检查结果不好，则使基板检查系统停止，将校准靶(calibrationtarget)加装于工作平台后，执行基板检查系统的校准。因此，在使用者确认之前无法获知检查性能是否低下，存在未正常实现检查的印刷电路板被制造成制品的问题。
技术实现思路
解决的技术问题本专利技术提供一种验证能够检查检查体是否不良的检查部是否异常的方法、检查台及检查系统。技术方案根据本专利技术一个实施例，验证能够在检查系统中检查检查体是否不良的检查部是否异常的方法包括：提供在附着于所述检查系统的框架上形成的验证基准体的步骤；使所述检查部位于所述验证基准体上的步骤；通过所述检查部而获得所述验证基准体的影像数据的步骤；从所述影像数据提取所述检查部的移动误差及高度误差并验证所述检查部是否异常的步骤；生成代表所述检查部是否异常的验证结果的步骤。在一个实施例中，所述验证基准体包括：平板，其包括能够代表高度的基准及灰度级的平板区域；至少2个框标，其配置于所述平板区域的周边；高度标，其配置于所述平板区域的周边，所述验证检查部是否异常的步骤包括：从所述至少2个框标的影像数据提取所述检查部的移动误差的步骤；从所述平板或所述高度标的影像数据提取所述检查部的高度误差的步骤。在一个实施例中，所述验证基准体包括：至少2个框标；平板，其代表高度的基准，包括由所述至少2个框标所定义的平板区域；高度标，其配置于所述平板区域的周边，所述验证检查部是否异常的步骤包括：从所述至少2个框标的影像数据提取所述检查部的移动误差的步骤；从所述平板或所述高度标的影像数据提取所述检查部的高度误差的步骤。在一个实施例中，所述平板代表用于验证所述检查部的高度的精密度所需的高度基准。在一个实施例中，所述至少2个框标代表用于验证所述检查部的移动的精密度所需的至少2个位置。在一个实施例中，所述高度标代表用于验证所述检查部的高度测量的精密度所需的事先设置的高度。在一个实施例中，所述提取检查部的移动误差的步骤包括：从所述至少2个框标的影像数据检测所述至少2个框标的位置的步骤；比较关于所述至少2个框标的事先设置的基准位置与所述检测的位置，验证所述检查部是否异常的步骤。在一个实施例中，所述提取检查部的高度误差的步骤包括：利用所述平板或所述高度标的影像数据，检测所述高度标的高度的步骤；比较所述高度标的事先设置的高度与所述检测的高度，验证所述检查部是否异常的步骤。在一个实施例中，所述使检查部位于所述验证基准体上的步骤包括：基于所述检查部的检查不良率，使所述检查部位于所述验证基准体上的步骤。在一个实施例中，所述方法可以还包括：基于所述验证结果，校准所述检查部，补正所述检查部的异常的步骤。根据本专利技术另一实施例，用于验证能够在检查系统中检查检查体是否不良的检查部是否异常所需的检查台包括：框架，其能附着于所述检查系统；验证基准体，其在所述框架上形成，所述验证基准体包括：平板，其包括能够代表高度的基准及灰度级的平板区域；至少2个框标，其配置于所述平板区域的周边；高度标，其配置于所述平板区域的周边。根据本专利技术另一实施例，用于验证能够在检查系统中检查检查体是否不良的检查部是否异常所需的检查台，包括：框架，其能附着于所述检查系统；验证基准体，其在所述框架上形成，所述验证基准体包括：至少2个框标；平板，其代表高度的基准，包括由所述至少2个框标所定义的平板区域；高度标，其配置于所述平板区域的周边。在另一实施例中，所述平板代表用于验证所述检查部的高度的精密度所需的高度基准。在另一实施例中，所述至少2个框标代表用于验证所述检查部的移动的精密度所需的至少2个位置。在另一实施例中，所述高度标代表用于验证所述检查部的高度测量的精密度所需的事先设置的高度。在另一实施例中，所述验证基准体配置于所述框架的凹陷部。在另一实施例中，所述检查台还包括：盖子，其构成得能够开闭配置于所述凹陷部的所述验证基准体；驱动部，其以所述验证基准体为基准而使所述盖子移动，以便开闭所述验证基准体。在另一实施例中，所述驱动部包括：旋转驱动部，其使所述盖子旋转，以便开闭所述验证基准体。在另一实施例中，所述驱动部包括：滑动驱动部，其使所述盖子滑动移动，以便开闭所述验证基准体。在另一实施例中，所述检查台还包括：反射体，其配置于所述框架，用于验证在所述检查部中发生光的光源是否异常。在另一实施例中，所述反射体具有凸出的弯曲形状。在另一实施例中，所述反射体具有凹陷的弯曲形状。本专利技术又一实施例的检查系统包括：检查部，其能够检查检查体是否不良；另一实施例的检查台；控制部，其使所述检查部位于所述验证基准体上，通过所述检查部而获得所述验证基准体的影像数据，验证所述检查部是否异常，生成代表所述检查部是否异常的验证结果。在又一实施例中，所述控制部基于所述检查部的检查体检查不良率，使所述检查部位于所述验证基准体上。在又一实施例中，所述控制部基于所述验证结果，校准所述检查部，补正所述检查部的异常。专利技术效果根据本专利技术，不是只依赖使用者的经验性知识，而是可以自动确认检查系统的检查性能是否低下，从而减少未正确实现检查的检查体被制造成制品，可以提高收率。另外，根据本专利技术，可以根据检查部是否异常，自动执行检查部的是否异常验证及校准，可以高效管理检查系统的运营时间。附图说明图1是概略地显示本专利技术实施例的检查系统构成的图。图2是概略地显示本专利技术实施例的检查部的构成的说明图。图3是概略地显示本专利技术实施例的检查台的构成的立体图。图4a是显示本专利技术实施例的反射体的一个示例的侧视图。图4b是显示本专利技术实施例的反射体的另一示例的侧视图。图5a是显示本专利技术实施例的移动盖子而使验证基准体开放的状态的示例图。图5b是显示本专利技术实施例的使盖子位于验证基准体上的状态的示例图。图6是根据本专利技术的实施例，显示通过第二验证靶，执行检查部的是否异常验证及校准的步骤的流程图。图7是根据本专利技术的实施例，显示通过反射体验证检查部是否异常的步骤的流程图。图8a是显示本专利技术实施例的照明部正常的示例图。图8b是显示本专利技术实施例的照明部异常的示例图。图9是根据本专利技术的实施例，显示提供验证结果的步骤的流程图。图10是显示本专利技术实施例的验证结果的列表的示例图。图11是显示本专利技术实施例的验证结果的图表的示例图。具体实施方式下面参照附图，说明本专利技术的实施本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种方法，作为验证能够在检查系统中检查检查体是否不良的检查部是否异常的方法，其中，包括：提供在附着于所述检查系统的框架上形成的验证基准体的步骤；使所述检查部位于所述验证基准体上的步骤；通过所述检查部而获得所述验证基准体的影像数据的步骤；从所述影像数据提取所述检查部的移动误差及高度误差并验证所述检查部是否异常的步骤；生成代表所述检查部是否异常的验证结果的步骤。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.02.04 KR 10-2016-00143641.一种方法，作为验证能够在检查系统中检查检查体是否不良的检查部是否异常的方法，其中，包括：提供在附着于所述检查系统的框架上形成的验证基准体的步骤；使所述检查部位于所述验证基准体上的步骤；通过所述检查部而获得所述验证基准体的影像数据的步骤；从所述影像数据提取所述检查部的移动误差及高度误差并验证所述检查部是否异常的步骤；生成代表所述检查部是否异常的验证结果的步骤。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述验证基准体包括：平板，其包括能够代表高度的基准及灰度级的平板区域；至少2个框标，其配置于所述平板区域的周边；高度标，其配置于所述平板区域的周边，所述验证检查部是否异常的步骤包括：从所述至少2个的框标的影像数据提取所述检查部的移动误差的步骤；从所述平板或所述高度标的影像数据提取所述检查部的高度误差的步骤。3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述验证基准体包括：至少2个框标；平板，其代表高度的基准，包括由所述至少2个框标所定义的平板区域；高度标，其配置于所述平板区域的周边，所述验证检查部是否异常的步骤包括：从所述至少2个框标的影像数据提取所述检查部的移动误差的步骤；从所述平板或所述高度标的影像数据提取所述检查部的高度误差的步骤。4.根据权利要求2或3所述的方法，其中，所述平板代表用于验证所述检查部的高度的精密度所需的高度基准。5.根据权利要求2或3所述的方法，其中，所述至少2个框标代表用于验证所述检查部的移动的精密度所需的至少2个位置。6.根据权利要求2或3所述的方法，其中，所述高度标代表用于验证所述检查部的高度测量的精密度所需的事先设置的高度。7.根据权利要求2或3所述的方法，其中，所述提取检查部的移动误差的步骤包括：从所述至少2个框标的影像数据检测所述至少2个框标的位置的步骤；比较关于所述至少2个框标的事先设置的基准位置与所述检测的位置，验证所述检查部是否异常的步骤。8.根据权利要求2或3所述的方法，其中，所述提取检查部的高度误差的步骤包括：利用所述平板或所述高度标的影像数据，检测所述高度标的高度的步骤；比较所述高度标的事先设置的高度与所述检测的高度，验证所述检查部是否异常的步骤。9.根据权利要求1所述的方法，其中，所述使检查部位于所述验证基准体上的步骤包括：基于所述检查部的检查不良率，使所述检查部位于所述验证基准体上的步骤。10.根据权利要求1所述的方法，其中，还包括：基于所述验证结果，校准所述检查部，补正所述检查部的异常的步骤。11.一种检...

【专利技术属性】
技术研发人员：金冠成，金明镐，朴南圭，金柱赫，
申请(专利权)人：株式会社高永科技，
类型：发明
国别省市：韩国,KR