一种微波反射面精度测量的可视化实现方法以及装置制造方法及图纸

一种微波反射面精度测量的可视化实现方法以及装置，采用局部点接触，自动采集的方式，收集反射面数据点，并将记录反射面法向数值点，对实际微波反射面各值和标准微波反射面的各值按照经度、纬度方向进行拟合，得出标准微波反射面与实测微波反射面的对比可视化结果，该种方式为局部接触，不会对反射面本身精度造成影响，而且克服了机械测量方法不可测量法向微小凸起的缺点，并通过相应特殊计算，并通过软件得出相应的可视化结果。

A method and device for visualizing the accuracy of microwave reflector measurement

A visualization method and device for measuring the precision of microwave reflector are presented. The data points of the reflector are collected by local point contact and automatic acquisition, and the normal numerical points of the reflector are recorded. Comparing the visualization results of standard microwave reflector with measured microwave reflector, this method is local contact, which will not affect the precision of reflector itself, and overcomes the shortcomings of mechanical measurement method which can not measure normal small convex, and obtains the corresponding visualization results through corresponding special calculation and software.

【技术实现步骤摘要】
一种微波反射面精度测量的可视化实现方法以及装置
本专利技术涉及微波天线测量技术，具体说的是一种微波反射面精度测量的可视化实现方法以及装置。
技术介绍
微波天线作为通讯系统的重要终端之一，广泛用于点对点的无线通信，抛物面天线是微波领域最常见的实现方式之一，反射面作为抛物面天线的核心部件，其面精度的优劣直接影响电性能指标的好坏。现工程中，通常采用机械测量的方式，对反射面精度进行测量，目前多采用曲线靠板与塞尺配合，测量均布点的法向间隙数值Li,并计算其均方根但采用该种方法，有如下问题：若采用机械方式测量，仅能测量曲线靠板和被测量反射面的法向间隙，而不能测量法向的微小凸起，而曲线靠板与被测反射面接触，因受重力，对面精度产生一定程度的影响；采用均方根数值，对反射面精度进行判断，该指标为宏观均值，对判断局部严重变形的反射面精度，可能会出现判断失效现象；该种测量方法效率较低，难以形象，直观反映反射面精度，在测量过程中，多参杂测量者主观因素，难以达到客观评价反射面精度的目的。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术提供一种微波反射面精度测量的可视化实现方法以及装置，采用局部点接触，自动采集的方式，收集反射面数据点，并将记录反射面法向数值点，该种方式为局部接触，不会对反射面本身精度造成影响，而且克服了机械测量方法不可测量法向微小凸起的缺点，并通过相应特殊计算，并通过软件得出相应的可视化结果。为实现上述技术目的，所采用的技术方案是：一种微波反射面精度测量的可视化实现方法：步骤一、将多个测量仪表以法向角度对实测微波反射面局部点接触，以测量的被测点数据计算得到实际测量法向参数步骤二、根据标准微波反射面的x轴、标准微波反射面的y轴、标准微波反射面的z轴、以及实际测量法向参数计算得到实测微波反射面的实测点的倾斜角θ、实测微波反射面的x轴、实测微波反射面的y轴、以及实测微波反射面的z轴；步骤三、对实际微波反射面各值和标准微波反射面的各值按照经度、纬度方向进行拟合，得出标准微波反射面与实测微波反射面的对比可视化结果。进一步，所述的标准微波反射面的x轴为标准微波反射面的y轴为标准微波反射面的z轴为其中，f(x)为标准微波反射面的曲线方程，α为标准微波反射面与x轴的角度，为第i行j列的标准曲面x、y、z轴数值。进一步，所述的实测微波反射面的实测点的倾斜角θ为实测微波反射面的x轴为实测微波反射面的y轴为以及实测微波反射面的z轴为其中，f(x)为标准微波反射面的曲线方程，为第i行j列的标准微波反射面x、y、z轴数值，α为标准微波反射面与x轴的角度，ap为设定的比例缩放因子。进一步，所述的标准微波反射面与实测微波反射面的对比可视化结果由matlab软件得出。进一步，所述的matlab软件通过标准微波反射面与实测微波反射面得出可视化误差柱状图，可视化误差柱状图显示实测微波反射面的各测量点相对于标准微波反射面之间的法向间隙值、分组结果和误差趋势。一种微波反射面精度测量的可视化实现装置，包括测量模块、计算模块和可视化模块；所述的测量模块包括多个测量仪表，将多个测量仪表以法向角度对实测微波反射面局部点接触，以测量的被测点数据计算得到实际测量法向参数所述的计算模块根据标准微波反射面的x轴、标准微波反射面的y轴、标准微波反射面的z轴、以及测量模块得到的实际测量法向参数计算得到实测微波反射面的实测点的倾斜角θ、实测微波反射面的x轴、实测微波反射面的y轴、以及实测微波反射面的z轴；所述的可视化模块对计算模块得出的实际微波反射面各值和标准微波反射面的各值按照经度、纬度方向进行拟合，得出标准微波反射面与实测微波反射面的对比可视化结果。进一步，所述的标准微波反射面的x轴为标准微波反射面的y轴为标准微波反射面的z轴为其中，f(x)为标准微波反射面的曲线方程，α为标准微波反射面与x轴的角度，为第i行j列的标准曲面x、y、z轴数值。进一步，所述的实测微波反射面的实测点的倾斜角θ为实测微波反射面的x轴为实测微波反射面的y轴为以及实测微波反射面的z轴为其中，f(x)为标准微波反射面的曲线方程，为第i行j列的标准微波反射面x、y、z轴数值，α为标准微波反射面与x轴的角度，ap为设定的比例缩放因子。进一步，所述的标准微波反射面与实测微波反射面的对比可视化结果由matlab软件得出。进一步，所述的matlab软件通过标准微波反射面与实测微波反射面得出可视化误差柱状图，可视化误差柱状图显示实测微波反射面的各测量点相对于标准微波反射面之间的法向间隙值、分组结果和误差趋势。本专利技术有益效果是：1.本专利采用局部接触，自动采集反射面数据点的方式收集数据，该方法克服机械测量不能测量法向微小凸起的缺陷，同时测量仪器对反射面精度影响较小，该方法容易实现自动化，具有测量准，效率高等特点。2.本专利采用实测反射面可视化对比，误差可视化分析的方法，可直观，定量的分析反射面精度，克服了以均方根判断时，因局部严重变形而失效的缺点。3.本专利对实测反射面精度进行定量分析，可实现反射面精度优劣等级区分，对精度检验，模具改善，指导生产具有一定的意义。4.反射面精度等级采用软件自动判断，减少人为主观臆断；附图说明图1为本专利技术的方法流程图；图2为本专利技术的局部点接触测量示意图；图3为本专利技术的反射面俯视示意图；图4为本专利技术的反射面截面曲线局部细节图；图5为本专利技术标准微波反射面与实测微波反射面的对比可视化结果图；图6为本专利技术的可视化误差柱状图及分层标准判定示意图；图中：1、仪表固定板，2、测量仪表，3、实测微波反射面。具体实施方式下面结合附图给出专利技术的较佳实施例，以详细说明本专利技术的技术方案。这里，将给出相应附图对本专利技术进行详细说明。需要特别说明的是，这里所描述的优选实施例子仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限制或限定本专利技术。一种微波反射面精度测量的可视化实现方法：步骤一、将多个测量仪表以法向角度对实测微波反射面局部点接触，以测量的被测点数据计算得到实际测量法向参数现工程上，通常采用曲线靠板和塞尺配合，来测量反射面精度，该种测量方法机仅能械测量反射面的法向间隙，而不能测量法向的微小凸起，而曲线靠板的自身重量，也会给面精度产生一定程度的影响。该测量方法将电子仪表、机械仪表或其它探针式仪表以被测点的法向角度固定于仪表固定板上，采用局部点接触，自动采集的方式，收集反射面数据点，并将记录反射面法向数值点，仪表固定板的形状与天线形状接近，其上方设有多个用于固定测量仪表的安装口，该种方式为局部接触，不会对反射面本身精度造成影响，而且克服了机械测量方法不可测量法向微小凸起的缺点。该方法容易实现自动化，具有测量准，效率高等特点。以图2、3为例，在每个纬度线上设有八个电子仪表，每个半径经度线上设有四个电子仪表，每个电子仪表到达底部中心的距离xi坐标分别为m0，m1，m2，m3，m4。步骤二、根据标准微波反射面的x轴、标准微波反射面的y轴、标准微波反射面的z轴、以及实际测量法向参数计算得到实测微波反射面的实测点的倾斜角θ、实测微波反射面的x轴、实测微波反射面的y轴、以及实测微波反射面的z轴。如图4所示，所述的标准微波反射面的x轴为标准微波反射面的y轴为标准微波反射面的z轴为其中，f(x)为标准微波反射面的曲线方程，为第i行j列的标准曲面本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种微波反射面精度测量的可视化实现方法，其特征在于：步骤一、将多个测量仪表以法向角度对实测微波反射面局部点接触，以测量的被测点数据计算得到实际测量法向参数

【技术特征摘要】
1.一种微波反射面精度测量的可视化实现方法，其特征在于：步骤一、将多个测量仪表以法向角度对实测微波反射面局部点接触，以测量的被测点数据计算得到实际测量法向参数步骤二、根据标准微波反射面的x轴、标准微波反射面的y轴、标准微波反射面的z轴、以及实际测量法向参数计算得到实测微波反射面的实测点的倾斜角θ、实测微波反射面的x轴、实测微波反射面的y轴、以及实测微波反射面的z轴；步骤三、对实际微波反射面各值和标准微波反射面的各值按照经度、纬度方向进行拟合，得出标准微波反射面与实测微波反射面的对比可视化结果。2.如权利要求1所述的一种微波反射面精度测量的可视化实现方法，其特征在于：所述的标准微波反射面的x轴为标准微波反射面的y轴为标准微波反射面的z轴为其中，f(x)为标准微波反射面的曲线方程，α为标准微波反射面与x轴的角度，为第i行j列的标准曲面x、y、z轴数值。3.如权利要求1所述的一种微波反射面精度测量的可视化实现方法，其特征在于：所述的实测微波反射面的实测点的倾斜角θ为实测微波反射面的x轴为实测微波反射面的y轴为以及实测微波反射面的z轴为其中，f(x)为标准微波反射面的曲线方程，为第i行j列的标准微波反射面x、y、z轴数值，α为标准微波反射面与x轴的角度，ap为设定的比例缩放因子。4.如权利要求1所述的一种微波反射面精度测量的可视化实现方法，其特征在于：所述的标准微波反射面与实测微波反射面的对比可视化结果由matlab软件得出。5.如权利要求4所述的一种微波反射面精度测量的可视化实现方法，其特征在于：所述的matlab软件通过标准微波反射面与实测微波反射面得出可视化误差柱状图，可视化误差柱状图显示实测微波反射面的各测量点相对于标准微波反射面之间的法向间隙值、分组结果和误差趋势。6.一种微波反射面精度测量的可视化实现装置，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘彬彬，陈鹏羽，熊国辉，粟炳龙，李骁男，许超磊，林泽银，郭浩楠，
申请(专利权)人：广东通宇通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44