【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】三维计算机断层扫描量规
本专利申请要求专利技术名称为“THREE-DIMENSIONALCOMPUTEDTOMOGRAPHYGAUGE”、专利技术人为JonathanJ.O’Hare、在2015年10月23日提交的美国临时专利申请号62/245,409的优先权,通过参考将该申请的公开全部结合在本文中。
本专利技术总体而言涉及计算机断层扫描系统(CT系统),更具体而言,本专利技术涉及用于测量物体的x射线计算机断层扫描装置/CT机器的校准和/或校验。
技术介绍
坐标测量机器(CMM)是用于精确测量各种各样不同类型工件的黄金标准。例如,CMM能够测量飞机发动机部件、外科手术工具和枪管的关键尺寸。精确和准确的测量有助于确保它们的底层系统(在飞机部件的情况下为飞机)按照规定进行操作。不准确测量会带来灾难性后果。因而,为了确保CMM交付准确测量,CMM行业已经开发了良好定义的准确校验标准、程序和计量工具来校准和校验进行这些测量的底层机器。为此,CMM校验过程典型地需要硬量规,这些硬量规可针对部确定计算进行追踪,并且以确保它们(即,这些量规)尺寸稳定的方式设计。
技术实现思路
根据本专利技术的一个方面,校准或校验x射线计算机断层扫描机的尺寸精度的方法控制x射线计算机断层扫描机来产生量规重构(量规的3D重构)。该量规具有支撑两个或更多个物体的第一基座和支撑两个或更多个物体的第二基座。所述第一基座和所述第二基座形成垂直构造,并且所述多个物体中的每个物体都被固定在所述第一基座和所述第二基座中的至少一者上。每个物体都具有中心,并且每个物体的中心之间的距离是已知的(已知中心距离 ...
【技术保护点】
1.一种校准或校验x射线计算机断层扫描机的尺寸精度的方法,该方法包括:控制所述x射线计算机断层扫描机对量规进行成像以产生带有所述量规的重构特征的3D量规重构,所述量规包括多个物体、支撑所述物体中的两个或更多个物体的第一基座和支撑所述物体中的另外两个或更多个物体的第二基座,所述第一基座形成第一平面,所述第二基座形成第二平面,所述第一平面和所述第二平面彼此基本垂直;将所述物体中的每个物体固定在所述第一基座和所述第二基座中的至少一者上,所述物体中的每个物体具有中心,所述物体中的每个物体的中心之间的距离是已知中心距离值;在所述3D量规重构中测量至少两个物体之间的距离以产生测量中心距离值;将所述测量中心距离值与所述已知中心距离值进行比较;以及使用所述比较来确定所述x射线计算机断层扫描机中是否存在距离误差。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.10.23 US 62/245,4091.一种校准或校验x射线计算机断层扫描机的尺寸精度的方法,该方法包括:控制所述x射线计算机断层扫描机对量规进行成像以产生带有所述量规的重构特征的3D量规重构,所述量规包括多个物体、支撑所述物体中的两个或更多个物体的第一基座和支撑所述物体中的另外两个或更多个物体的第二基座,所述第一基座形成第一平面,所述第二基座形成第二平面,所述第一平面和所述第二平面彼此基本垂直;将所述物体中的每个物体固定在所述第一基座和所述第二基座中的至少一者上,所述物体中的每个物体具有中心,所述物体中的每个物体的中心之间的距离是已知中心距离值;在所述3D量规重构中测量至少两个物体之间的距离以产生测量中心距离值;将所述测量中心距离值与所述已知中心距离值进行比较;以及使用所述比较来确定所述x射线计算机断层扫描机中是否存在距离误差。2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第一基座和所述第二基座中的至少一者具有穿过实心基座材料的至少一个孔。3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第二基座沿着所述第一基座的边缘接触所述第一基座。4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述物体中的每个物体基本为球形形状并且大小相同。5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述物体中的每个物体包括红宝石材料。6.根据权利要求1所述的方法,其中,所述物体中的至少一个物体既接触所述第一基座又接触所述第二基座。7.根据权利要求1所述的方法,其中,所述多个物体中的第一物体、第二物体和第三物体形成基本直线,并且其中测量的步骤包括在所述第一物体和第二物体之间进行测量以及在所述第一物体和第三物体之间进行测量。8.根据权利要求7所述的方法,其中,所述多个物体中的第四物体是所述基本直线的一部分,并且其中测量的步骤包括在所述第一物体、第二物体和第三物体中的至少一个物体与所述第四物体之间进行测量。9.根据权利要求1所述的方法,其中,控制所述x射线计算机断层扫描机的步骤包括:由不同取向上的多个x射线投影图像产生所述量规的多个3D量规重构,所述方法进一步包括将所述物体在所述3D量规重构中的每个3D量规重构中的测量中心距离值与相应的已知中心距离值进行比较。10.根据权利要求1所述的方法,该方法进一步包括:确定不存在距离误差;以及响应于确定不存在距离误差,保持所述x射线计算机断层扫描机中的校准设置。11.根据权利要求1所述的方法,该方法进一步包括:确定存在距离误差;以及响应于确定存在距离误差,修改所述x射线计算机断层扫描机的校准设置。12.根据权利要求11所述的方法,该方法进一步包括:确定所述测量中心距离值与所述已知中心距离值之间的差,根据所述差中的至少一个差来修改所述校准设置。13.根据权利要求1所述的方法,其中,所述物体包括给定类型的物体,所述第一基座和所述第二基座均支撑所述给定类型的物体中的至少两个物体。14.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第一基座和所述第二基座由基座材料形成,所述多个物体由物体材料形成,所述物体材料对x射线的衰减比所述基座材料对x射线的衰减高。15.根据权利要求1所述的方法,其中,控制的步骤包括控制所述x射线计算机断层扫描机以便围绕一旋转轴线在所述量规周围进行扫描,所述旋转轴线偏离a)第一平面;b)第二平面;或c)所述第一平面和所述第二平面这二者。16.根据权利要求1所述的方法,其中,所述3D量规重构包括点云。17.一种计...
【专利技术属性】
技术研发人员:J·J·奥黑尔,
申请(专利权)人:海克斯康测量技术有限公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
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