产品寿命分析方法及终端设备技术

本发明专利技术提供了产品寿命分析方法及终端设备，该方法包括：获取产品在预设加速寿命试验条件下的第一试验数据，以及产品在自然贮存条件下的第二试验数据；所述第二试验数据为产品失效时对应的时间数据；根据所述预设加速寿命试验条件和所述自然贮存条件，将所述第一试验数据转化为在所述自然贮存条件下的第三试验数据；根据所述第二试验数据和所述第三试验数据，通过极小卡方估计方法对产品寿命进行分析。上述方法及终端设备能够科学、准确的对产品寿命进行分析评估。

Product life analysis method and terminal equipment

The invention provides a method of product life analysis and a terminal device. The method includes: obtaining the first test data of the product under the preset accelerated life test condition and the second test data of the product under the natural storage condition; the second test data is the time data for the product when the product fails; according to the presupposition, the data is added. The speed life test condition and the natural storage condition are converted into third test data under the natural storage condition, and the product life is analyzed by the minimum chi square estimation method based on the second test data and the third test data. The above method and terminal equipment can analyze and evaluate the life of the product scientifically and accurately.

【技术实现步骤摘要】
产品寿命分析方法及终端设备
本专利技术属于寿命分析
，尤其涉及产品寿命分析方法及终端设备。
技术介绍
通常情况下，产品在出厂后，由于某种原因需要在仓库中贮存一段时间，由于贮存环境的作用，产品可靠性指标会有所下降。为了鉴定贮存期不同阶段产品质量的变化，需要在贮存过程中进行试验并分析试验数据。一般可以通过加速寿命试验对产品进行寿命分析，而对产品进行加速寿命试验通常并不会直接得到产品的失效时间，因此通过上述试验数据进行产品寿命试验分析并不够科学、准确。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供了产品寿命分析方法及终端设备，以解决现有技术中分析结果不够科学、准确的问题。本专利技术实施例的第一方面提供了一种产品寿命分析方法，包括：获取产品在预设加速寿命试验条件下的第一试验数据，以及产品在自然贮存条件下的第二试验数据；所述第二试验数据为产品失效时对应的时间数据；根据所述预设加速寿命试验条件和所述自然贮存条件，将所述第一试验数据转化为在所述自然贮存条件下的第三试验数据；根据所述第二试验数据和所述第三试验数据，通过极小卡方估计方法对产品寿命进行分析。可选的，所述根据所述预设加速寿命试验条件和所述自然贮存条件，将所述第一试验数据转化为在所述自然贮存条件下的第三试验数据，具体为：根据所述预设加速寿命试验条件和所述自然贮存条件，通过多源数据融合的方法将所述第一试验数据转化为在所述自然贮存条件下的第三试验数据。可选的，产品寿命服从威布尔分布和I型极大值分布；所述根据所述预设加速寿命试验条件和所述自然贮存条件，通过多源数据融合的方法将所述第一试验数据转化为在所述自然贮存条件下的第三试验数据，过程为：数据属于成败型不完全失效数据，数据类型可以等效如下：记t＝(t1,…,tk)为检测时间点，在贮存了时间ti之后，抽取ni件产品进行试验，发现Xi件失效，从而得到数据：(ti,ni,Xi),i＝1,2,…,k，其中，0<t1<t2<…<tk，各次试验相互独立；设预设加速寿命试验条件对应k个应力S1,S2,…,Sk，设S0<S1<S2<…<Sk，其中S0为自然贮存对应的应力水平，在应力Si下共有ri个产品失效，失效时间分别为：τi为Si下的截尾时间，i＝1,2,…,k；记试验样本总数为n，失效样本总数为到达试验截尾时刻τk仍未失效的样本数为n-r，属于定时截尾型数据；设产品寿命T的分布函数为F(t；θ)，其中θ是未知参数。设g(θ)是θ的广义实值函数；若在试验中未发生失效，n个产品的截尾试验时间依次为t1,t2,…,tn，则根据可靠度函数R(t；θ)可得到无故障数据情形下的似然函数为：对于给定的n个截尾试验时间t1,t2,…,tn，g(θ)的1-α置信水平的最优正则置信下限y*(Z0)存在，且其中Θ指θ的取值空间。可选的，假设各应力水平下产品贮存寿命服从威布尔分布，则分布函数为：其中，mi和ηi分别为应力Si下的形状参数和尺度参数；假设I.：各应力水平Si下的形状参数mi相等，即m0＝m1＝…＝mk＝m；且假设II：产品的特征寿命ηi与所施加应力Si，满足Arrhenius加速方程：其中，a＝lnA，b＝-Ea/R为未知参数，假设III：产品剩余寿命仅依赖于失效累积量和当时的应力水平，而与累积方式无关；由假定I分布的形状参数mi相等，则应力Si下第j个失效样本的失效时间折算到给定应力Sq下的失效时间为：到达试验截尾时间τk仍未失效的样本折算到给定应力水平Sq下的时间为：其中，i＝1,2,…,k，j＝1,2,…,ri，Ki,q为应力水平Si与Sq之间的加速因子：可选的，在计算得到形状参数m后，加速应力Sa条件下的特征寿命ηa在置信度为1-α时的最优置信下限为：即：则特征寿命ηa在1-α水平下的最优置信下限为：将(ηa)L作为加速应力Sa条件下特征寿命ηa的估计值则加速因子为：根据得到的加速因子，将加速寿命试验条件中的无失效数据折算为自然贮存试验条件下的定时截尾数据，并结合自然贮存试验条件下的失效数据，给出相应产品的贮存寿命估计值。可选的，假设各应力水平下产品寿命服从I型极大值分布，则分布函数为：其中，μi和σi分别为应力Si下的位置参数和尺度参数；假设I：各应力水平Si下的尺度参数σi相等，即σ0＝σ1＝…＝σk＝σ；假设II：产品的特征寿命μi与所施加应力Si，满足Arrhenius加速方程：其中，a与b为未知参数，假设III：产品剩余寿命仅依赖于失效累积量和当时的应力水平，而与累积方式无关；由假定I分布的尺度参数σi相等，则应力Si下第j个失效样本的失效时间折算到给定应力Sq下的失效时间为：到达试验截尾时间τk仍未失效的样本折算到给定应力水平Sq下的时间为：其中，i＝1,2,…,k，j＝1,2,…,ri，Ki,q为应力水平Si与Sq之间的加速因子：可选的，在计算得到尺度参数σ后，则加速应力Sa条件下的位置参数μa在置信度为1-α时的最优置信下限为：即：求解等式，可得位置参数μa在1-α水平下的最优置信下限为(μa)L；将(μa)L作为加速应力Sa条件下位置参数μa的估计值则加速因子为：根据得到的加速因子，将加速试验条件中的无失效数据折算为自然贮存条件下的定时截尾数据，并结合自然贮存条件下的失效数据，给出相应产品的贮存寿命估计值。本专利技术实施例的第二方面提供了一种产品寿命分析装置，包括：数据获取模块，用于获取产品在预设加速寿命试验条件下的第一试验数据，以及产品在自然贮存条件下的第二试验数据；所述第二试验数据为产品失效时对应的时间数据；转化模块，用于根据所述预设加速寿命试验条件和所述自然贮存条件，将所述第一试验数据转化为在所述自然贮存条件下的第三试验数据；分析模板，用于根据所述第二试验数据和所述第三试验数据，通过极小卡方估计方法对产品寿命进行分析。本专利技术实施例的第三方面提供了一种产品寿命分析终端设备，包括存储器、处理器，所述存储器中存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如下步骤：获取产品在预设加速寿命试验条件下的第一试验数据，以及产品在自然贮存条件下的第二试验数据；所述第二试验数据为产品失效时对应的时间数据；根据所述预设加速寿命试验条件和所述自然贮存条件，将所述第一试验数据转化为在所述自然贮存条件下的第三试验数据；根据所述第二试验数据和所述第三试验数据，通过极小卡方估计方法对产品寿命进行分析。本专利技术实施例的第四方面提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种产品寿命分析方法的步骤。本专利技术实施例与现有技术相比存在的有益效果是：本专利技术实施例，首先获取产品在预设加速寿命试验条件下的第一试验数据以及产品在自然贮存条件下的第二试验数据，然后根据所述预设加速寿命试验条件和所述自然贮存条件，将所述第一试验数据转化为在所述自然贮存条件下的第三试验数据；再根据所述第二试验数据和所述第三试验数据，通过极小卡方估计方法对产品寿命进行分析，从而能够科学、准确的对产品寿命进行分析。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种产品寿命分析方法，其特征在于，包括：获取产品在预设加速寿命试验条件下的第一试验数据，以及产品在自然贮存条件下的第二试验数据；所述第二试验数据为产品失效时对应的时间数据；根据所述预设加速寿命试验条件和所述自然贮存条件，将所述第一试验数据转化为在所述自然贮存条件下的第三试验数据；根据所述第二试验数据和所述第三试验数据，通过极小卡方估计方法对产品寿命进行分析。

【技术特征摘要】
1.一种产品寿命分析方法，其特征在于，包括：获取产品在预设加速寿命试验条件下的第一试验数据，以及产品在自然贮存条件下的第二试验数据；所述第二试验数据为产品失效时对应的时间数据；根据所述预设加速寿命试验条件和所述自然贮存条件，将所述第一试验数据转化为在所述自然贮存条件下的第三试验数据；根据所述第二试验数据和所述第三试验数据，通过极小卡方估计方法对产品寿命进行分析。2.如权利要求1所述的产品寿命分析方法，其特征在于，所述根据所述预设加速寿命试验条件和所述自然贮存条件，将所述第一试验数据转化为在所述自然贮存条件下的第三试验数据，具体为：根据所述预设加速寿命试验条件和所述自然贮存条件，通过多源数据融合的方法将所述第一试验数据转化为在所述自然贮存条件下的第三试验数据。3.如权利要求1所述的产品寿命分析方法，其特征在于，产品寿命服从威布尔分布和I型极大值分布；所述根据所述预设加速寿命试验条件和所述自然贮存条件，通过多源数据融合的方法将所述第一试验数据转化为在所述自然贮存条件下的第三试验数据，过程为：数据属于成败型不完全失效数据，数据类型可以等效如下：记t＝(t1,…,tk)为检测时间点，在贮存了时间ti之后，抽取ni件产品进行试验，发现Xi件失效，从而得到数据：(ti,ni,Xi),i＝1,2,…,k，其中，0<t1<t2<…<tk，各次试验相互独立；设预设加速寿命试验条件对应k个应力S1,S2,…,Sk，设S0<S1<S2<…<Sk，其中S0为自然贮存对应的应力水平，在应力Si下共有ri个产品失效，失效时间分别为：τi为Si下的截尾时间，i＝1,2,…,k；记试验样本总数为n，失效样本总数为到达试验截尾时刻τk仍未失效的样本数为n-r，属于定时截尾型数据；设产品寿命T的分布函数为F(t；θ)，其中θ是未知参数。设g(θ)是θ的广义实值函数；若在试验中未发生失效，n个产品的截尾试验时间依次为t1,t2,…,tn，则根据可靠度函数R(t；θ)可得到无故障数据情形下的似然函数为：对于给定的n个截尾试验时间t1,t2,…,tn，g(θ)的1-α置信水平的最优正则置信下限y*(Z0)存在，且其中Θ指θ的取值空间。4.如权利要求3所述的产品寿命分析方法，其特征在于，假设各应力水平下产品贮存寿命服从威布尔分布，则分布函数为：其中，mi和ηi分别为应力Si下的形状参数和尺度参数；假设I.：各应力水平Si下的形状参数mi相等，即m0＝m1＝…＝mk＝m；且假设II：产品的特征寿命ηi与所施加应力Si，满足Arrhenius加速方程：其中，a＝lnA，b＝-Ea/R为未知参数，假设III：产品剩余寿命仅依赖于失效累积量和当时的应力水平，而与累积方式无关；由假定I分布的形状参数mi相等，则应力Si下第j个失效样本的失效时间折算到给定应力Sq下的失效时间为：到达试验截尾时间τk仍未失效的样本折算到给定应力水平Sq下的时间为：其中，i＝1,2,…,k，j＝1,2,…,ri，Ki,q为...

【专利技术属性】
技术研发人员：牛跃听，赵晓东，穆希辉，葛强，张国志，宋桂飞，马小兵，柳维旗，王韶光，贾浩楠，姜志保，王永南，黄琛，
申请(专利权)人：中国人民解放军六三九零八部队，
类型：发明
国别省市：河北,13