极性判别装置、安装装置、极性判别方法制造方法及图纸

本发明专利技术对电子部件的极性进行判别而不增加生产节拍时间。对向基板(W)安装的电子部件(Pa)的极性进行判别的极性判别装置(55)具有：发光部(46)，其朝向电子部件的规定高度位置发光；受光部(47)，其对隔着电子部件而来自发光部的光进行受光；计算部(56)，其根据电子部件相对于受光部的遮光宽度，对部件宽度进行计算；以及判别部(57)，其基于规定高度位置的部件宽度，对电子部件的极性进行判别，发光部及受光部搭载于将电子部件向基板安装的安装头。

【技术实现步骤摘要】
极性判别装置、安装装置、极性判别方法
本专利技术涉及对向基板安装的电子部件的极性进行判别的极性判别装置、安装装置、极性判别方法。
技术介绍
作为电子部件的极性判别装置，提出了在生产开始前对电子部件的极性进行电气检查的极性判别装置(例如，参照专利文献1)。在专利文献1所记载的极性判别装置中设置有一对接触端子，通过向该一对接触端子推压电子部件的引线而进行通电，从而对电子部件的极性等进行判别而防止电子部件相对于基板的误安装。另外，作为其他极性判别装置，提出了下述装置，即，通过拍摄装置从下方对输送过程中的电子部件进行拍摄，根据在拍摄图像中拍摄到的电子部件的外表面所具有的模样，对电子部件的极性进行判别。专利文献1：日本特开2009－115638号公报但是，在专利文献1所记载的极性判别装置中，如果不将电子部件输送至装置的规定位置，则无法进行极性判别，同样地，在其他极性判别装置中，如果不将电子部件输送至拍摄装置的正上方，则无法对极性进行判别。因此，存在生产节拍时间变长而生产率恶化这样的问题。
技术实现思路
本专利技术就是鉴于该问题而提出的，其目的之一在于提供一种能够对电子部件的极性进行判别而不增加生产节拍时间的极性判别装置、安装装置、极性判别方法。本专利技术的一个方式的极性判别装置，其对向基板安装的电子部件的极性进行判别，该极性判别装置的特征在于，具有：发光部，其朝向电子部件的规定高度位置发光；受光部，其在电子部件配置于所述发光部和受光部之间的状态下，对来自所述发光部的光进行受光；计算部，其根据电子部件相对于所述受光部的遮光宽度，对部件宽度进行计算；以及判别部，其基于规定高度位置的部件宽度，对电子部件的极性进行判别，所述发光部及所述受光部搭载于将电子部件向基板安装的安装头。本专利技术的一个方式的极性判别方法，其对向基板安装的电子部件的极性进行判别，该极性判别方法的特征在于，具有下述步骤：通过受光部对朝向电子部件的规定高度位置的来自发光部的光进行受光；根据电子部件相对于所述受光部的遮光宽度，对部件宽度进行计算；以及基于规定高度位置的部件宽度，对电子部件的极性进行判别，所述发光部及所述受光部搭载于将电子部件向基板安装的安装头，在通过安装头实现的电子部件的输送过程中对极性进行判别。根据这些结构，在安装头搭载有发光部和受光部，通过在电子部件配置于发光部和受光部之间的状态下由受光部对来自发光部的光进行受光，从而对部件宽度进行计算，根据部件宽度对电子部件的极性进行判别。一边通过安装头对电子部件进行输送，一边对极性进行判别，因此无需为了对极性进行判别而绕远，能够以最短路径将电子部件向基板输送。由此，能够对电子部件的极性进行判别而不增加生产节拍时间。在上述的极性判别装置中，具有驱动机构，该驱动机构对所述电子部件与所述发光部和所述受光部的相对位置进行变更。根据该结构，能够通过所述驱动机构使相对于电子部件的发光位置及受光位置可变。在上述的极性判别装置中，电子部件具有多个引线，所述发光部在规定高度位置朝向多个引线发光，在多个引线配置于所述发光部和受光部之间的状态下，所述受光部对来自所述发光部的光进行受光，所述计算部根据多个引线相对于所述受光部的遮光宽度，对引线宽度进行计算，所述判别部根据多个引线的引线宽度的差异，对电子部件的极性进行判别。根据该结构，能够容易地根据引线宽度而对正极和负极不同的电子部件的极性进行判别。在上述的极性判别装置中，电子部件具有一对引线，一根引线为J形引线。根据该结构，由于J形引线的引线宽度形成得宽，因此能够容易地根据引线宽度而对电子部件的极性进行判别。在上述的极性判别装置中，所述发光部朝向电子部件改变高度位置而发光，在电子部件配置于所述发光部和受光部之间的状态下，所述受光部对来自所述发光部的光进行受光，所述计算部根据电子部件相对于所述受光部的遮光宽度，在各高度位置对部件宽度进行计算，所述判别部根据各高度位置的部件宽度的中心位置的偏移方向，对电子部件的极性进行判别。根据该结构，能够根据各高度位置处的部件宽度的中心位置的偏移，容易地对在正极侧和负极侧部件形状不同的电子部件的极性进行判别。在上述的极性判别装置中，电子部件在高度方向分成封装部和多个引线，所述发光部在第1高度位置朝向封装部发光，并且在第2高度位置朝向多个引线发光，在封装部配置于所述发光部和受光部之间的状态下，所述受光部对来自所述发光部的光进行受光，并且在多个引线配置于所述发光部和受光部之间的状态下，所述受光部对来自所述发光部的光进行受光，所述计算部根据封装部相对于所述受光部的遮光宽度，对封装部宽度进行计算，并且根据多个引线相对于所述受光部的遮光宽度，对从一端的引线至另一端的引线为止的区域宽度进行计算，所述判别部根据封装部宽度的中心位置和引线的区域宽度的中心位置的偏移方向，对电子部件的极性进行判别。根据该结构，能够根据封装部宽度和引线的区域宽度的中心位置的偏移，容易地对在正极侧和负极侧部件形状不同的电子部件的极性进行判别。本专利技术的一个方式的安装装置的特征在于，具有：安装头，其具有上述的极性判别装置；以及移动机构，其使所述安装头从电子部件的供给位置朝向基板移动，根据由所述极性判别装置判别出的电子部件的极性，对安装角度进行调整，通过所述安装头向基板安装电子部件。根据该结构，一边通过安装头对电子部件进行输送，一边对极性进行判别，因此能够将电子部件向基板以适当的朝向进行安装而不增加电子部件的生产节拍时间。专利技术的效果根据本专利技术，在安装头搭载有发光部和受光部，一边通过安装头对电子部件进行输送，一边对极性进行判别，因此能够缩短生产节拍时间而提高生产率。附图说明图1是表示本实施方式的安装装置整体的示意图。图2是表示本实施方式的安装头周边的示意图。图3是表示对比例的安装装置的输送路径的示意图。图4是本实施方式的极性判别装置的示意图。图5是本实施方式的第1极性判别方法的说明图。图6是本实施方式的第2极性判别方法的说明图。图7是本实施方式的第1极性判别方法的流程图。图8是本实施方式的第2极性判别方法的流程图。标号的说明1安装装置10供给装置(供给器)30水平移动机构(移动机构)40安装头41安装头主体43吸嘴驱动部(驱动机构)45识别单元46发光部47受光部55极性判别装置56计算部57判别部61、71封装部62、63、72、73引线Pa、Pb、Pc电子部件W基板具体实施方式下面，参照附图，对本实施方式的安装装置进行说明。图1是表示本实施方式的安装装置整体的示意图。此外，本实施方式的安装装置只不过是一个例子，能够适当变更。如图1所示，安装装置1构成为将由供给装置(供给器)10供给的部件P(参照图2)通过安装头40而安装于基板W的规定位置。在安装装置1的基台20的大致中央，配置有在X轴方向对基板W进行输送的基板输送部21。基板输送部21从X轴方向的一端侧将部件安装前的基板W向安装头40的下方搬入而定位，将部件安装后的基板W从X轴方向的另一端侧向装置外搬出。另外，在基台20上，在隔着基板输送部21的两侧，在X轴方向并排地配置有多个供给装置10。在供给装置10中可自由装卸地安装有带盘11，在带盘11中卷绕有对各种部件进行了封装的载料带。各供给装置10通过在装置内设置的链轮的旋转而朝向被安装头本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种极性判别装置，其对向基板安装的电子部件的极性进行判别，该极性判别装置的特征在于，具有：发光部，其朝向电子部件的规定高度位置发光；受光部，其在电子部件配置于所述发光部和受光部之间的状态下，对来自所述发光部的光进行受光；计算部，其根据电子部件相对于所述受光部的遮光宽度，对部件宽度进行计算；以及判别部，其基于规定高度位置的部件宽度，对电子部件的极性进行判别，所述发光部及所述受光部搭载于将电子部件向基板安装的安装头。

【技术特征摘要】
2016.11.07 JP 2016-2171101.一种极性判别装置，其对向基板安装的电子部件的极性进行判别，该极性判别装置的特征在于，具有：发光部，其朝向电子部件的规定高度位置发光；受光部，其在电子部件配置于所述发光部和受光部之间的状态下，对来自所述发光部的光进行受光；计算部，其根据电子部件相对于所述受光部的遮光宽度，对部件宽度进行计算；以及判别部，其基于规定高度位置的部件宽度，对电子部件的极性进行判别，所述发光部及所述受光部搭载于将电子部件向基板安装的安装头。2.根据权利要求1所述的极性判别装置，其特征在于，具有驱动机构，该驱动机构对所述电子部件与所述发光部和所述受光部的相对位置进行变更。3.根据权利要求1所述的极性判别装置，其特征在于，电子部件具有多个引线，所述发光部在规定高度位置朝向多个引线发光，在多个引线配置于所述发光部和所述受光部之间的状态下，所述受光部对来自所述发光部的光进行受光，所述计算部根据多个引线相对于所述受光部的遮光宽度，对引线宽度进行计算，所述判别部根据多个引线的引线宽度的差异，对电子部件的极性进行判别。4.根据权利要求3所述的极性判别装置，其特征在于，电子部件具有一对引线，一根引线为J形引线。5.根据权利要求1所述的极性判别装置，其特征在于，所述发光部朝向电子部件改变高度位置而发光，在电子部件配置于所述发光部和所述受光部之间的状态下，所述受光部对来自所述发光部的光进行受光，所述计算部根据电子部件相对于所述受光部的遮光宽度，在各高度位置对部件宽度进...

【专利技术属性】
技术研发人员：藤田高史，
申请(专利权)人：JUKI株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP