一种可精确测量易变形件尺寸的结构和方法及底座技术

本发明专利技术涉及一种可精确测量易变形件尺寸的结构和方法及底座，所述结构用于对测量装置的两个测量端进行卡接定位；所述结构包括第一测量筋和第二测量筋，所述第一测量筋和第二测量筋固定在易变形件的被测量区域上，所述第一测量筋上设有用于卡接测量装置一个测量端的第一卡位部，所述第二测量筋上设有用于卡接测量装置另一个测量端的第二卡位部。本发明专利技术通过在易变形件的被测量区域上设置两个测量筋，且在测量筋上设置卡位部，在通过卡尺等测量工具测量时，方便测量工具的定位；且方便易变形件、形状不规则、被测量区域都是弧度或圆角或斜面等易变形件的尺寸测量，有利于生产控制。

A structure and method for accurately measuring the size of changeable parts and a base thereof

The present invention relates to a structure and a method and a base for accurately measuring the size of a variable part, which is used for clamping and positioning of two measuring ends of the measuring device; the structure comprises a first measuring bar and a second measuring bar, which is fixed on a measured area of a variable part. The first measuring bar is provided with a first card portion for a measuring end of the clamp measuring device, and the second measuring bar is provided with a second card section for another measuring end of the clamp measuring device. By setting two measuring tendons on the measured area of the variable parts, and setting the position of the card position on the measuring bar, it is convenient to measure the positioning of the tool when measured by a measuring tool such as a caliper, and it is convenient for the variable parts, irregular shape and the measured area to be measured in the dimensions of the variable parts, such as the arc or the round angle or the inclined plane. The quantity is beneficial to the production control.

【技术实现步骤摘要】
一种可精确测量易变形件尺寸的结构和方法及底座
本专利技术涉及结构尺寸测量
，具体涉及一种可精确测量易变形件尺寸的结构和方法及底座。
技术介绍
很多塑料件，整体形状有一定弹性，受力后容易发生变形，不方便测量尺寸，同时表面又都有圆角或者斜面，在用卡尺等工具测量时，常常发现不知道测量哪个点，测出的尺寸跟图纸尺寸会有区别，非常不便于生产控制，也影响产品品质。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种可精确测量易变形件尺寸的结构和方法及底座。本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下：一种可精确测量易变形件尺寸的结构，用于对测量装置的两个测量端进行卡接定位；包括第一测量筋和第二测量筋，所述第一测量筋和第二测量筋固定在易变形件的被测量区域上，所述第一测量筋上设有用于卡接测量装置一个测量端的第一卡位部，所述第二测量筋上设有用于卡接测量装置另一个测量端的第二卡位部。本专利技术的有益效果是：本专利技术通过在易变形件的被测量区域上设置两个测量筋，且在测量筋上设置卡位部，在通过卡尺等测量工具测量时，方便测量工具的定位；且方便易变形件、形状不规则、被测量区域都是弧度或圆角或斜面等易变形件的尺寸测量，有利于生产控制。在上述技术方案的基础上，本专利技术还可以做如下改进。进一步，所述第一卡位部和第二卡位部均为平面结构且与所述测量面垂直布置；所述第一卡位部为所述第一测量筋远离所述第二测量筋的一侧面，所述第二卡位部为所述第二测量筋远离所述第一测量筋的一侧面。采用上述进一步方案的有益效果是：通过将第一卡位部和第二卡位部设置为平面结构，方便卡尺的卡接定位，测量精度更高。进一步，所述第一卡位部为开设在所述第一测量筋远离所述第二测量筋的一侧面上的凹槽或通孔，所述第二卡位部为开设在所述第二测量筋远离所述第一测量筋的一侧面上的凹槽或通孔。采用上述进一步方案的有益效果是：通过将第一卡位部和第二卡位部设置为凹槽或通孔结构，方便测量工具的卡接定位。进一步，所述第一卡位部和第二卡位部均位于所述被测量区域的周向边沿处。采用上述进一步方案的有益效果是：通过将第一卡位部和第二卡位部设置在被测量区域的周向边沿处，可保证被测量区域测量尺寸的准确性。进一步，所述第一测量筋和第二测量筋均包括顶面、第一侧面、第二侧面、测量面和固定面，所述顶面为所述第一测量筋和第二测量筋背离所述被测量区域的一侧面且与所述第一侧面和第二侧面的顶端连接；所述第一测量筋的测量面为所述第一测量筋远离所述第二测量筋的一侧面，所述第二测量筋的测量面为所述第二测量筋远离所述第一测量筋的一侧面；所述第一侧面和第二侧面一端连接所述测量面的两侧，所述固定面连接所述第一侧面和第二侧面靠近所述被测量区域的一端上且与所述易变形件的被测量区域固定连接；所述第一卡位部和第二卡位部分别为所述第一测量筋的测量面和所述第二测量筋的测量面，或者所述第一卡位部和第二卡位部分别设置在所述第一测量筋和第二测量筋的测量面上；所述第一侧面和第二侧面之间的间距不超过1.5mm。采用上述进一步方案的有益效果是：通过对第一侧面和第二侧面之间的厚度进行限定，节省原料，方便出模生产。进一步，所述被测量区域为平面，所述顶面与所述被测量区域平行布置，所述顶面与所述被测量区域之间的垂直距离为3mm-5mm。采用上述进一步方案的有益效果是：通过对顶面和被测量区域之间的距离进行限定，避免影响外观结构。一种底座，包括底座本体和如上所述的可精确测量易变形件尺寸的结构，所述第一测量筋和第二测量筋固定在底座本体的被测量区域上。本专利技术的有益效果是：本专利技术的底座，通过设置第一测量筋和第二测量筋，在通过卡尺等测量工具测量时，方便测量工具的定位；且方便易变形件、形状不规则、被测量区域都是弧度或圆角或斜面等易变形件的尺寸测量，有利于生产控制。进一步，所述底座本体包括筒状结构的侧壁和一体连接在所述侧壁一端的底壁，所述被测量区域为所述底壁的外侧面。采用上述进一步方案的有益效果是：通过对底壁的外侧面的尺寸进行测量，使测得的尺寸最能代表整个底座的尺寸，测量精度高。进一步，所述底壁的外侧面上连接有多个支脚，所述支脚的表面为弧面结构，所述第一测量筋和第二测量筋分别一体连接在两个所述支脚与所述底壁的连接处。采用上述进一步方案的有益效果是：通过把第一测量筋和第二测量筋设置在支脚和底壁的连接处，不影响底座整体的结构和功能。一种通过如上所述的结构精确测量易变形件尺寸的方法，包括以下步骤：S1，在被测量区域上设置第一测量筋和第二测量筋，使第一卡位部和第二卡位部之间的距离为所述被测量区域的最大尺寸；S2，将测量装置的两个测量端分别卡接在第一卡位部和第二卡位部上，对被测量区域的尺寸进行测量。本专利技术的有益效果是：本专利技术的方法测量精度高，有利于生产控制。附图说明图1为本专利技术实施例的底座的立体结构示意图一；图2为本专利技术实施例的底座的立体结构示意图二；图3为本专利技术实施例的底座的仰视结构示意图；图4为图1中A部的放大结构示意图；图5为图1中B部的放大结构示意图；图6为图2中C部的放大结构示意图。附图中，各标号所代表的部件列表如下：1、底座本体；11、侧壁；12、底壁；13、支脚；2、第一测量筋；21、顶面；22、第一侧面；23、第二侧面；24、测量面；3、第二测量筋。具体实施方式以下结合附图对本专利技术的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本专利技术，并非用于限定本专利技术的范围。实施例1如图1-图6所示，一种可精确测量易变形件尺寸的结构，用于对测量装置的两个测量端进行卡接定位；包括第一测量筋2和第二测量筋3，所述第一测量筋2和第二测量筋3固定在易变形件的被测量区域上，所述第一测量筋2上设有用于卡接测量装置一个测量端的第一卡位部，所述第二测量筋3上设有用于卡接测量装置另一个测量端的第二卡位部。本实施例的被测量区域为易变形件需要测量尺寸的一个面。本实施例通过在易变形件的被测量区域上设置两个测量筋，且在测量筋上设置卡位部，在通过卡尺等测量工具测量时，方便测量工具的定位；且方便易变形件、形状不规则、被测量区域都是弧度或圆角或斜面等易变形件的尺寸测量，有利于生产控制。本实施例的第一卡位部和第二卡位部的结构有两种实施方式，具体如下所示：实施方式一，如图4-图6所示，本实施方式的所述第一卡位部和第二卡位部均为平面结构且与所述被测量区域垂直布置；所述第一卡位部为所述第一测量筋2远离所述第二测量筋3的一侧面，所述第二卡位部为所述第二测量筋3远离所述第一测量筋2的一侧面。通过将第一卡位部和第二卡位部设置为平面结构，当用卡尺进行测量时，可直接将游标卡尺的两个外测量爪卡在第一卡位部和第二卡位部上，即可实现易变形件尺寸的精确测量，方便卡尺的卡接定位，测量精度更高。实施方式二，本实施方式的所述第一卡位部为开设在所述第一测量筋2远离所述第二测量筋3的一侧面上的凹槽或通孔，所述第二卡位部为开设在所述第二测量筋3远离所述第一测量筋2的一侧面上的凹槽或通孔。通过将第一卡位部和第二卡位部设置为凹槽或通孔结构，当使用端部带钩的测量工具时，可直接将测量工具的端部卡接在凹槽或通孔内，方便测量工具的卡接定位。本实施例的所述第一卡位部和第二卡位部均位于所述被测量区域的周向边沿处，可保证被测量区域测量尺寸的准确性。如图6所示，本实施例的所述第本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种可精确测量易变形件尺寸的结构，用于对测量装置的两个测量端进行卡接定位；其特征在于，包括第一测量筋和第二测量筋，所述第一测量筋和第二测量筋固定在易变形件的被测量区域上，所述第一测量筋上设有用于卡接测量装置一个测量端的第一卡位部，所述第二测量筋上设有用于卡接测量装置另一个测量端的第二卡位部。

【技术特征摘要】
1.一种可精确测量易变形件尺寸的结构，用于对测量装置的两个测量端进行卡接定位；其特征在于，包括第一测量筋和第二测量筋，所述第一测量筋和第二测量筋固定在易变形件的被测量区域上，所述第一测量筋上设有用于卡接测量装置一个测量端的第一卡位部，所述第二测量筋上设有用于卡接测量装置另一个测量端的第二卡位部。2.根据权利要求1所述一种可精确测量易变形件尺寸的结构，其特征在于，所述第一卡位部和第二卡位部均与所述被测量区域垂直布置；所述第一卡位部为所述第一测量筋远离所述第二测量筋的一侧面，所述第二卡位部为所述第二测量筋远离所述第一测量筋的一侧面。3.根据权利要求1所述一种可精确测量易变形件尺寸的结构，其特征在于，所述第一卡位部为开设在所述第一测量筋远离所述第二测量筋的一侧面上的凹槽或通孔，所述第二卡位部为开设在所述第二测量筋远离所述第一测量筋的一侧面上的凹槽或通孔。4.根据权利要求1至3任一项所述一种可精确测量易变形件尺寸的结构，其特征在于，所述第一卡位部和第二卡位部均位于所述被测量区域的周向边沿处。5.根据权利要求4所述一种可精确测量易变形件尺寸的结构，其特征在于，所述第一测量筋和第二测量筋均包括顶面、第一侧面、第二侧面、测量面和固定面，所述顶面为所述第一测量筋和第二测量筋背离所述被测量区域的一侧面且与所述第一侧面和第二侧面的顶端连接；所述第一测量筋的测量面为所述第一测量筋远离所述第二测量筋的一侧面，所述第二测量筋的测量面为所述第二测量筋远离所述第一测量筋的一侧面；所述第一侧面和...

【专利技术属性】
技术研发人员：付正庭，朱传斌，陈显怀，黎国柱，陈伟，袁伟，吴育权，瞿月红，
申请(专利权)人：佛山市顺德区美的电热电器制造有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44