天线装置制造方法及图纸

一种天线装置，具备一个以上的基板、配置在基板的第一区域的与覆盖天线装置的盖相对的面上的第一辐射元件、配置在基板的第二区域的与第一辐射元件和盖相对的面上的第二辐射元件、反射来自第一辐射元件的电磁波的第一反射板、反射来自第二辐射元件的电磁波的第二反射板，第一反射板和第二反射板在垂直于与盖相对的面的方向上的位置不同，第一区域及第二区域是在一个以上的基板的与盖相对的面上的相互不重复的区域。

【技术实现步骤摘要】
天线装置
本专利技术涉及天线装置。
技术介绍
目前，作为通过发送接收电磁波来检测障碍物的雷达装置，广泛公知有车辆用的雷达装置。车辆用的雷达装置例如用于行驶中的障碍物的探测、来自后方的超越车辆的探测。这种雷达装置安装于车辆的情况下，大多设置在车辆的保险杠内。但是，雷达装置设置于车辆的保险杠内的情况下，因保险杠反射电磁波，故而雷达装置的探测性能变差。作为抑制保险杠的盖部件引起的雷达装置的探测性能的劣化的方法，例如在专利文献1中公开有将盖部件的厚度最佳化的技术。专利文献1：(日本)特开2003－240838号公报然而，即使将盖部件的厚度最佳化，例如，根据针对每个车种涂布于盖部件外侧的涂层剂的不同引起的电磁波的反射率不同，针对每个个体，盖部件的厚度不同引起的电磁波的反射率不同，雷达装置的探测性能劣化。另外，由盖部件反射的电磁波在盖部件与雷达装置的天线装置之间引起多重反射。多重反射根据盖部件和天线装置的距离确定状态。盖部件与天线装置的距离通过雷达装置设置时的设置作业的偏差而变化。另外，只要是车辆，则盖部件与天线装置的距离还通过行驶时的振动而变化。因此，因其引起的盖部件与天线装置的距离的变化而产生雷达装置的探测性能的偏差。
技术实现思路
本专利技术的非限定的实施例减少在盖部件与天线装置之间产生的电磁波的多重反射，有助于减少雷达装置的探测性能的偏差。本专利技术一方面的天线装置，具备：一个以上的基板；第一辐射元件，其配置在所述基板的第一区域的与覆盖天线装置的盖相对的面上；第二辐射元件，其配置在所述基板的第二区域的与所述第一辐射元件和所述盖相对的面上；第一反射板，其将来自所述第一辐射元件的电磁波反射；第二反射板，其将来自所述第二辐射元件的电磁波反射，所述第一反射板和所述第二反射板在垂直于与所述盖相对的面的方向上的位置不同，所述第一区域及所述第二区域是在所述一个以上的基板的与所述盖相对的面上相互不重复的区域。根据本方面，能够减少在盖部件与天线装置之间产生的电磁波的多重反射，可减小雷达装置的探测性能的偏差。本专利技术一方面的进一步的优点及效果根据说明书及附图而明了。该优点及/或效果分别通过几个实施方式以及说明书及附图记载的特征而提供，但为了得到一个或其以上的同一特征，不一定需要全部提供。附图说明图1是表示盖部件和天线装置的位置关系的图；图2是表示变更盖部件与天线装置的距离的情况的电磁波的强度变化的图；图3是表示第一实施方式的天线装置的剖面图；图4是表示电磁波的强度变化的图；图5是表示第二实施方式的天线装置的剖面图；图6是模拟模型的俯视图；图7是模拟模型的剖面图；图8是表示使从第一天线到盖部件的距离和从第二天线到盖部件的距离相同的情况的模拟结果的图；图9是表示使从第一天线到盖部件的距离和从第二天线到盖部件的距离不同的情况的模拟结果的图；图10是表示第三实施方式的天线装置的剖面图；图11是表示第四实施方式的天线装置的剖面图；图12是表示第五实施方式的天线装置的剖面图。标记说明1：天线装置2：基板2a：面3：天线元件3a：面4：反射板4a：面5：盖部件5a：面10、20、30、40、50：天线装置11、41、61：基板11A：第一区域11Aa：面11B：第二区域11Ba：面12、22、32、42、52：第一天线元件12a、22a、42a、52a：面13、23、33、43、53：第一反射板13a、23a、43a、53a：面14、24、34、44、54：第一天线15、25、35、45、55：第二天线元件15a、25a、45a、55a：面16、26、36、46、56：第二反射板16a、26a、46a、56a：面17、27、37、47、57：第二天线18、28、38、48、58：盖部件18a、28a、48a、58a：面21A、31A：第一基板21Aa、21Ab：面21B、31B：第二基板21Ba、21Bb：面41A：第一基板部分41Aa、41Ab：面41B：第二基板部分41Ba、41Bb：面51A：第一基板51Aa、51Ab：面51Ac：连接部51B：第二基板51Ba、51Bb：面51Bc：连接部60：天线装置62、65：阵列天线63、66：反射板具体实施方式以下，参照附图对本专利技术的各实施方式进行说明。对于说明，特别是以设置于车辆的车辆用雷达装置为例。在各实施方式中，在相同的结构上标注同一标记并省略重复的说明。此外，以下所示的全部的图是示意性表示结构的图，为了便于说明，放大表示各要素的尺寸，另外，根据需要省略要素而进行表示。首先，使用图1对在天线装置1与盖部件5之间产生的电磁波的性能进行说明。图1是表示天线装置1和盖部件5的位置关系的图。天线装置1具备基板2、天线元件3、反射板4。天线元件3配置在基板2的两面中的与盖部件5相对的面2a上。反射板4配置在基板2的内部。反射板4起到在规定方向上增强天线的指向性的作用。反射板4具有比天线元件3大的面积。天线元件3是发送用的天线的情况下，电磁波从天线元件3的与盖部件5相对的面3a朝向盖部件5辐射。被辐射的电磁波在天线装置1与盖部件5之间的空间传递，到达盖部件5的与天线装置1相对的面5a。到达了盖部件5的面5a的电磁波中的一部分透过盖部件5，到达了盖部件5的面5a的电磁波中的未透过盖部件5的电磁波朝向天线装置1反射。由盖部件5的面5a反射的电磁波到达天线装置1的反射板4的与盖部件5相对的面4a。到达了反射板4的面4a的电磁波朝向盖部件5再反射。从天线元件3辐射的电磁波被连续辐射，故而被反射板4再反射的电磁波与从天线元件3辐射的电磁波重叠。将从天线元件3辐射的电磁波、由反射板4再反射的电磁波重叠而成的电磁波(以下称为“叠加电磁波”)根据从天线元件3辐射的电磁波、和由反射板4再反射的电磁波的相位差而增强或减弱。因此，实际的天线辐射的电磁波的辐射级(level)或强或弱地被捕获。根据该现象，从天线装置1辐射的电磁波的辐射级(level)的强弱发生变化。在此，对由盖部件5反射的电磁波被反射板4再反射，与从天线元件3辐射的电磁波叠加的情况进行说明。首先，由盖部件5反射的电磁波将盖部件5的相对介电常数设为εc，将盖部件5的厚度设为d，将盖部件5外侧的空间的介电常数设为ε0，由下述式(1)表示。【式1】在盖部件5内部的电磁波的波长为λe的情况下，式(1)中的β由【数2】表示。另外，在盖部件5的外侧空间的电磁波的波长为λ的情况下，λe由【数3】表示。因此，式(1)中的βd可表示为【数4】在此，在将从天线元件3辐射的电磁波的相位设为0，天线元件3的面3a与盖部件5的面5a的距离为l的情况下，式(1)可由下述的式(2)表示。【数5】在此，如上述，由盖部件5反射的电磁波到达反射板4，朝向盖部件5再反射。此外，也考虑再反射由基板2的与盖部件5相对的面2a、反射板4双方引起。然而，基板2的厚度相对于λ足够小。因此，由基板2的面2a再反射的电磁波对叠加电磁波的影响比由反射板4再反射的电磁波对叠加电磁波的影响足够小。因此，在此，对反射板4的再反射进行考虑。到达反射板4的面4a的电磁波在从天线元件3辐射的电磁波的相位为0的情况下，将基板2的面2a与反射板4的面4a的距离设为t，将基板2的相对介电常数设为εb，通过下述的式(3)表示。【本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种天线装置，其具备：一个以上的基板；第一辐射元件，其配置在所述基板的第一区域的与覆盖天线装置的盖相对的面上；第二辐射元件，其配置在所述基板的第二区域的与所述第一辐射元件和所述盖相对的面上；第一反射板，其将来自所述第一辐射元件的电磁波反射；第二反射板，其将来自所述第二辐射元件的电磁波反射，所述第一反射板和所述第二反射板在垂直于与所述盖相对的面的方向上的位置不同，所述第一区域及所述第二区域是在所述一个以上的基板的与所述盖相对的面上相互不重复的区域。

【技术特征摘要】
2016.07.05 JP 2016-1334711.一种天线装置，其具备：一个以上的基板；第一辐射元件，其配置在所述基板的第一区域的与覆盖天线装置的盖相对的面上；第二辐射元件，其配置在所述基板的第二区域的与所述第一辐射元件和所述盖相对的面上；第一反射板，其将来自所述第一辐射元件的电磁波反射；第二反射板，其将来自所述第二辐射元件的电磁波反射，所述第一反射板和所述第二反射板在垂直于与所述盖相对的面的方向上的位置不同，所述第一区域及所述第二区域是在所述一个以上的基板的与所述盖相对的面上相互不重复的区域。2.如权利要求1所述的天线装置，其中，所述一个以上的基板中的第一基板在所述第一区域包含所述第一辐射元件及所述第一反射板，所述一...

【专利技术属性】
技术研发人员：塩崎亮佑，樫野祐一，高桥健，铃木优人，
申请(专利权)人：松下知识产权经营株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP