一种用于嵌入式计算机板卡可靠性试验的通用测试平台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于嵌入式计算机板卡可靠性试验的通用测试平台，包括测试设备和设置在可靠性试验箱内的无谐振基座和测试夹具，所述测试设备通过中继部件与测试夹具连接；所述测试设备包括系统板和与系统板相连的至少一个测试单元板；所述中继部件包括中继主机端、中继目标端和中继电缆，所述中继主机端与测试单元板一体化设置，所述中继目标端与测试夹具一体化设置。与现有技术相比，本实用新型专利技术的优点是：本实用新型专利技术可同时完成多个并行测试通道嵌入式电子产品测试，测试简便、测试效率高、测试结果准确，可扩展性高和维修成本低。

A general test platform for reliability test of embedded computer card

The utility model discloses a universal test platform for embedded computer board reliability test, including test equipment and set in the non resonant base and test fixture reliability test box, the test device is connected with the test fixture through the relay component; the testing device includes a system board and connected to the system board at least one the test unit plate; the relay component includes a relay host terminal, relay and relay cable terminal, set the relay host and testing unit board integration, the relay target setting and test fixture integration. Compared with the prior art, the utility model has the advantages that the utility model can simultaneously complete the parallel testing of multiple channel embedded electronic product testing, testing is simple, high efficient, accurate test results, high scalability and low maintenance cost.

【技术实现步骤摘要】
一种用于嵌入式计算机板卡可靠性试验的通用测试平台
本技术涉及一种用于嵌入式计算机板卡可靠性试验的通用测试平台。
技术介绍
随着科技的进步和生产的发展，人们对电子测量提出了越来越高的要求。对测试设备在功能、性能、测试速度、测试准确度等方面的需求也日趋提高。特别是嵌入式电子产品，由于与宿主设备绑定紧密，其物理形态种类繁多，既有PCI/PCIE/CPCI/CPCIE等计算机总线类板卡，还包括各种串行、并行等定制总线类模块，在开展各类环境试验、可靠性试验时，如果采用原宿主设备进行试验，成本投入较大，而目前市面上嵌入式电子产品的环境试验测试设备较少，基本为专用定制设备，无法满足多种产品的测试需要，更没有真实还原宿主设备安装及工作环境、满足大批量环境试验的产品，测试人员往往需要简化验收规范，采用临时手段进行验收，严重影响了产品交付的质量。因此，有必要针对现有技术不足，提供一种嵌入式电子产品环境试验的通用测试平台以克服上述缺陷甚为重要。
技术实现思路
本技术克服了现有技术中的缺点，提供了一种用于嵌入式计算机板卡可靠性试验的通用测试平台，包括测试软件、测试设备、中继部件、测试夹具、无谐振基座；测试设备能够满足高速计算机总线、串行及并行等专用接口的适配，提供通信通道，由测试软件完成测试流程和特殊协议的灵活配置；中继部件能够实现各类通信接口的中继透传，延长传输距离，可与测试夹具一起安装在无谐振基座之上满足被测模块的固定和批量可靠性试验的需求；本技术同时还可应用于高低温、振动、冲击等各类试验中去。本技术的技术方案是：一种用于嵌入式计算机板卡可靠性试验的通用测试平台，包括测试设备和设置在可靠性试验箱内的无谐振基座和测试夹具，所述测试设备通过中继部件与测试夹具连接；所述测试设备包括系统板和与系统板相连的至少一个测试单元板；所述中继部件包括中继主机端、中继目标端和中继电缆，所述中继主机端与测试单元板一体化设置，所述中继目标端与测试夹具一体化设置。与现有技术相比，本技术的优点是：根据目前嵌入式计算机板卡可靠性试验的测试需求，通过接口适配板和测试夹具的适配，已经实现PCI、PCI-E、CPCI、CPCI-E等被测对象的试验测试，本技术的技术体系平台还能快速扩展满足多种嵌入式电子产品的测试，同时还能应用到嵌入式电子产品常温的各项功能和指标测试中去，应用到环境试验、可靠性试验和电磁兼容试验的测试需求；本技术可同时完成多个并行测试通道嵌入式电子产品测试，测试简便、测试效率高、测试结果准确，可扩展性高和维修成本低。附图说明本技术将通过例子并参照附图的方式说明，其中：图1为本技术总体架构图。图2为本技术结构示意图。图3为本技术测试设备测试单元板示意图。图4为本技术中继部件示意图。图5为本技术测试夹具示意图。图6为本技术无谐振基座示意图。图7为本技术软件流程示意图。图中：100为测试软件、200为测试设备、300为系统板、301为主控制板、302为电源板、303为交换板、304为背板、400为测试单元板、401为处理模块、402为接口适配模块、500为中继部件、501为中继电缆、600为中继主机端、700为中继目标端、800为测试夹具、801为PCI测试夹具、802为PCI-e试夹具、803为CPCI测试夹具、804为CPCI-E试夹具、900为被测模块、1000为无谐振基座、1100为电源。具体实施方式一种用于嵌入式计算机板卡可靠性试验的通用测试平台，包括测试软件100、中继部件500、设置在中继部件中的中继电缆501，中继主机端600、中继目标端700、测试夹具800和无谐振基座1000。测试软件100用于可针对不同类型产品实现对测试数据、测试指标上下限、测试程序脚本、报表模板等进行配置；具备测试信息集中存储管理能力，提供测试结果查询和数据分析的功能；测试软件提供测试用例脚本及产品驱动脚本编辑、测试脚本调试等，以及支持API函数的辅助定义功能。用户可以通过搭积木式的方式快速配置产品的自动测试用例和测试指标。测试用例的执行系统，提供一键式的自动测试用例执行系统，系统自动执行测试用例，获取测试数据并自动进行指标合格性判断。系统板300设置在测试设备200内，包括主控制板301、电源板302、交换板303、背板304、至少一个测试单元板400；所述主控制板301、交换板303、背板304顺次通信连接，背板304与各个测试单元板400连接。主控制板301用于运行测试软件，采用AXIE架构实现，支持6路测试单元，各板卡独立运行，互不影响，呈星型网络布局，除满足计算机总线性能速率要求外，并解决了被测板卡在同一计算机单元安装冲突的问题。背板304用于板卡的连接。交换板303采用千兆交换芯片实现，是整机的交换中心，所有板卡通过交换板303进行星型数据交换。所述电源板302采用直流-48V电源供电，给各板卡电源隔离供电。所述测试单元板400包括处理模块401、接口适配模块402，处理模块401和接口适配模块402之间采用综合测试接口进行连接，测试单元板400通过导轨实现在测试设备200上的灵活插拔和更换。测试单元包括计算机总线类测试单元和专用接口测试单元。处理模块完成被测模块测试流程的处理和与测试软件的数据通信，接口适配模块完成多型被测模块电气适配和连接，主要面向专用接口的被测对象的测试；可直接通过中继部件完成被测对象的测试。上述各个板卡依次顺次排列，均采用滑轨形式安装在测试设备200内，方便更换。每张板卡前面板带有锁紧装置，为防止板卡脱落还配有固定螺钉，测试接口均设计在测试单元板400前面板，方便中继电缆501接入。为保证可靠连接，所有板卡均利用背板连接器与背板进行硬连接。下面详细介绍测试单元板400。图3为本技术嵌入式计算机板卡可靠性试验的通用测试平台测试单元板示意图，所述测试单元板400，与中继主机端600一体化设计，一端通过背板304连接至测试设备200，另一端通过中继电缆501连接测试夹具800，在测试设备200内可灵活进行更换，最大支持6个测试单元板同时进行测试。测试单元板400设置有处理模块401和接口适配模块402。所述处理模块401主要完成被测模块测试流程的处理和系统数据通信处理，其上设置有控制处理模块403、背板接口404和综合测试接口405。控制处理模块403主要实现网络协议处理和通道切换。背板接口404采用标准芯片I/O口与背板303连接，可实现测试单元板400的互换，背板接口404为实现今后扩展，包含多路差分信号，便于今后各板卡传输速率的扩展。综合测试接口405与接口适配模块402连接，为适应接口适配模块402的扩展，满足被测模块900的适应性。综合测试接口405内包括计算机总线接口或多种信号类型的I/O口，便于各类测试信号的测试。所述接口适配模块402支持标准PCI-e连接器和中继电缆501连接器，标准PCI-e接口可支持标准PCIE全高全长、全高半长等卡的接入，中继电缆501连接器用于连接高速专用接口电缆，使用这种方式在插接使用寿命到期后，只需更换接口适配模块402上部的接插件或者直接更换接口适配模块402，可使维修非常快捷，成本较低。图4为本技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于嵌入式计算机板卡可靠性试验的通用测试平台，其特征在于：包括测试设备和设置在可靠性试验箱内的无谐振基座和测试夹具，所述测试设备通过中继部件与测试夹具连接；所述测试设备包括系统板和与系统板相连的至少一个测试单元板；所述中继部件包括中继主机端、中继目标端和中继电缆，所述中继主机端与测试单元板一体化设置，所述中继目标端与测试夹具一体化设置。

【技术特征摘要】
2016.12.09 CN 201621348389X1.一种用于嵌入式计算机板卡可靠性试验的通用测试平台，其特征在于：包括测试设备和设置在可靠性试验箱内的无谐振基座和测试夹具，所述测试设备通过中继部件与测试夹具连接；所述测试设备包括系统板和与系统板相连的至少一个测试单元板；所述中继部件包括中继主机端、中继目标端和中继电缆，所述中继主机端与测试单元板一体化设置，所述中继目标端与测试夹具一体化设置。2.根据权利要求1所述的一种用于嵌入式计算机板卡可靠性试验的通用测试平台，其特征在于：所述系统板包括主控制板、电源板、交换板和背板，所述主控制板、交换板、背板顺次通信连接，所述背板与测试单元板连接。3.根据权利要求2所述的一种用于嵌入式计算机板卡可靠性试验的通用测试平台，其特征在于：所述测试单元板包括采用综合测试接口进行连接的处理模块和接口适配模块。4.根据权利要求3所述的一种用于嵌入式计算机板卡可靠性试验的通用测试平台，其特征在于：所述接口...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵鹏，黄昊，杨平，吴圣陶，郭元兴，曾柯杰，廖熹，孟珞珈，黄巍，杨光，张云，赖川，熊仕鹏，刘雨沁，吴志勇，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第三十研究所，
类型：新型
国别省市：四川,51