用于电子设备的方法和电子设备技术

本发明专利技术提供了一种用于电子设备的方法，包括：发射光；以及接收发射光的反射光和环境光的反射光；及根据检测到的环境光的反射光，确定发射光的最优频率。本发明专利技术还提供了一种电子设备。

【技术实现步骤摘要】
用于电子设备的方法和电子设备
本专利技术总体上涉及光学
，具体地涉及用于电子设备的方法和电子设备。
技术介绍
光学触摸系统是将与要投影的图像相对应的光信号投影到系统之外的区域上并且通过针对从光学触摸系统发射的光的反射光来识别用户在该投影图像上进行的操作的系统。该系统具有节省空间、便于携带等优点，并且能够对细致的动作进行快速地反应，因而广泛地应用于会议场所、展览展示场所、教育培训场所等诸多场景中。然而，在各种复杂的环境中存在很多干扰源，干扰源的频率可能对光学触摸系统发射的光的频率相同或邻近，从而影响光学触摸系统对用户的操作的确定。因此，需要一种确定发射光的最优频率(受环境干扰最小的频率)的方法和电子设备，从而能够在降低环境干扰源的干扰的影响的情况下准确地确定用户的操作。
技术实现思路
本专利技术的一个方面提供了一种电子设备，包括：发射模块，被配置为发射光；检测模块，被配置为接收所发射光的反射光和环境光的反射光；以及控制器，被配置为根据检测到的环境光的反射光，确定所发射光的最优频率。优选地，所述电子设备还包括：投影模块，被配置为发出与要投影的图像相对应的光信号，以便能够在所述电子设备之外的投影区域上形成投影图像；其中，所述检测模块被进一步配置为当用户通过操作体在所述投影图像上进行交互时，从所述操作体接收所发射光的反射光；以及所述控制器被进一步配置为根据检测到的所发射光的反射光以及所述投影图像，确定用户执行的操作。优选地，所述最优频率是在根据环境光的频率以及相对应的倍频使下式达到最小值时对应的所述发射模块的内置频率：∑|i×fj-fk|aij，i＝1...M，j＝1...N，k＝1...K其中，fk表示第k个内置频率，fj表示第j个环境光的频率，K表示内置频率的数量，N表示环境光的频率的数量，M表示倍频的数量，aij表示相应环境光的频率的加权系数。优选地，所发射光是可见光或红外光。优选地，所述控制器被进一步配置为：根据当所述发射模块发射最优频率的光时检测到的反射光与当所述发射模块不发射光时检测到的反射光的差值，确定用户通过操作体执行的动作。优选地，所述检测模块被进一步配置为当所述发射模块不发射光时检测反射光，并且所述控制器被进一步配置为根据当所述发射模块不发射光时检测到的反射光来确定环境光的频率。本专利技术的另一个方面一种用于电子设备的方法，包括：发射光；以及接收所发射光的反射光和环境光的反射光；以及根据检测到的环境光的反射光，确定所发射光的最优频率。优选地，所述方法还包括：发出与要投影的图像相对应的光信号，以便能够在所述电子设备之外的投影区域上形成投影图像；当用户通过操作体在所述投影图像上进行交互时，从所述操作体接收所发射光的反射光；以及根据检测到的所发射光的反射光以及所述投影图像，确定用户执行的操作。优选地，所述最优频率是在根据环境光的频率以及相对应的倍频使下式达到最小值时对应的发射模块的内置频率：∑|i×fj-fk|aij，i＝1...M，j＝1...N，k＝1...K其中，fk表示第k个内置频率，fj表示第j个环境光的频率，K表示内置频率的数量，N表示环境光的频率的数量，M表示倍频的数量，aij表示相应环境光的频率的加权系数。优选地，所发射光是可见光或红外光。优选地，所述方法还包括：根据当发射最优频率的光时检测到的反射光与当不发射光时检测到的反射光的差值，确定用户通过操作体执行的动作。优选地，所述方法还包括：当不发射光时检测反射光；以及根据当不发射光时检测到的反射光来确定环境光的频率。附图说明为了更完整地理解本专利技术及其优势，现在将参考结合附图的以下描述，其中：图1a示意性示出了根据本专利技术实施例的电子设备的主视图；图1b示意性示出了根据本专利技术实施例的电子设备的立体图；图2示意性示出了根据本专利技术实施例的电子设备的框图；图3示意性示出了根据本专利技术的另一实施例的电子设备的框图；图4示意性示出了根据本专利技术实施例的用于电子设备的方法400的流程图；以及图5示意性示出了根据本专利技术的另一实施例的用于电子设备的方法500的流程图。具体实施方式根据结合附图对本专利技术示例性实施例的以下详细描述，本专利技术的其它方面、优势和突出特征对于本领域技术人员将变得显而易见。在本专利技术中，术语“包括”和“含有”及其派生词意为包括而非限制；术语“或”是包含性的，意为和/或。在本说明书中，下述用于描述本专利技术原理的各种实施例只是说明，不应该以任何方式解释为限制专利技术的范围。参照附图的下述描述用于帮助全面理解由权利要求及其等同物限定的本专利技术的示例性实施例。下述描述包括多种具体细节来帮助理解，但这些细节应认为仅仅是示例性的。因此，本领域普通技术人员应认识到，在不背离本专利技术的范围和精神的情况下，可以对本文中描述的实施例进行多种改变和修改。此外，为了清楚和简洁起见，省略了公知功能和结构的描述。此外，贯穿附图，相同参考数字用于相似功能和操作。图1a示意性示出了根据本专利技术实施例的电子设备的主视图，并且图1b示意性示出了根据本专利技术实施例的电子设备的立体图。如图1a和1b所示，检测模块、投影模块和发射模块设置在电子设备的正面上，控制器设置在电子设备的其他部分中。应当理解的是，检测模块、投影模块、发射模块和控制器的位置不限于图1a和图1b所示的位置。图2示意性示出了根据本专利技术实施例的电子设备200的框图。如图2所示，电子设备200包括：发射模块210、检测模块220以及控制器230。发射模块210可以被配置为发射光。所发射的光可以是可见光、红外光等。检测模块220可以被配置接收发射光的反射光和环境光的反射光。环境光的频率可能是射灯的频率，例如，50Hz。控制器230可以被配置为根据检测到的环境光的反射光，确定发射模块210所发射的光的最优频率。通过这种方式，可以利用电子设备200确定受环境干扰最小的发射光的频率，从而准确地确定用户执行的动作。在优选的实现方式中，该最优频率可以是在当所述发射模块210发射光时检测到的反射光与当所述发射模块210不发射光时检测到的反射光的差值最大时所对应的发射光的频率。在优选的实现方式中，该最优频率可以是在根据环境光的频率以及相对应的倍频使下式达到最小值时对应的发射模块210的内置频率：∑|i×fj-fk|aij，i＝1...M，j＝1...N，k＝1...K其中，fk表示第k个内置频率，fj表示第j个环境光的频率，K表示内置频率的数量，N表示环境光的频率的数量，M表示倍频的数量，aij表示相应环境光的频率的加权系数。通过这种方式，可以利用电子设备200更准确地确定受干扰频率的干扰最小的内置频率，从而提高确定用户执行的动作的准确度。在实际应用中，电子设备可能处于复杂的环境中，并且电子设备周围的干扰频率众多。为了提高确定用户执行的动作的效率和精度，可以将控制器230进一步配置为根据当所述发射模块发射最优频率的光时检测到的反射光与当所述发射模块不发射光时检测到的反射光的差值，确定用户通过操作体执行的动作。操作体可以是用户的手、手写笔等。通过这种方式，可以快速地且更准确地确定用户执行的动作，例如，点击、滑动等等。此外，在确定最优频率之前，可能需要首先确定环境光的频率。由此，可以将检测模块220进一步配置为当发射模块210不发射光时检测反射本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子设备，包括：发射模块，被配置为发射光；检测模块，被配置接收所发射光的反射光和环境光的反射光；以及控制器，被配置为根据检测到的环境光的反射光，确定所发射光的最优频率。

【技术特征摘要】
1.一种电子设备，包括：发射模块，被配置为发射光；检测模块，被配置接收所发射光的反射光和环境光的反射光；以及控制器，被配置为根据检测到的环境光的反射光，确定所发射光的最优频率。2.根据权利要求1所述的电子设备，还包括：投影模块，被配置为发出与要投影的图像相对应的光信号，以便能够在所述电子设备之外的投影区域上形成投影图像；其中，所述检测模块被进一步配置为当用户通过操作体在所述投影图像上进行交互时，从所述操作体接收所发射光的反射光；以及所述控制器被进一步配置为根据检测到的所发射光的反射光以及所述投影图像，确定用户执行的操作。3.根据权利要求1或2所述的电子设备，其中，所述最优频率是在根据环境光的频率以及相对应的倍频使下式达到最小值时对应的所述发射模块的内置频率：∑|i×fj-fk|aij，i＝1...M，j＝1...N，k＝1...K其中，fk表示第k个内置频率，fj表示第j个环境光的频率，K表示内置频率的数量，N表示环境光的频率的数量，M表示倍频的数量，aij表示相应环境光的频率的加权系数。4.根据权利要求1所述的电子设备，其中，所述控制器被进一步配置为：根据当所述发射模块发射最优频率的光时检测到的反射光与当所述发射模块不发射光时检测到的反射光的差值，确定用户通过操作体执行的动作。5.根据权利要求1所述的电子设备，其中，所述检测模块被进一步配置为当...

【专利技术属性】
技术研发人员：周浩强，王元成，顾书露，
申请(专利权)人：联想北京有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11