一种触控显示面板、其测试方法及显示装置制造方法及图纸

技术编号:15791361 阅读:133 留言:0更新日期:2017-07-09 21:01
本发明专利技术公开了一种触控显示面板、其测试方法及显示装置,该触控显示面板,包括:衬底基板,位于衬底基板的触控区域的多个呈阵列排布的触控电极,位于衬底基板的非触控区域的至少四条测试信号线,以及连接触控电极与对应的测试信号线的多条触控走线;其中,触控电极与周围的各触控电极对应不同的测试信号线;周围的各触控电极为触控电极沿行方向、列方向以及对角线方向上相邻的各触控电极。本发明专利技术实施例提供的触控显示面板中,通过在非触控区域设置至少四条测试信号线,且触控电极与周围的各触控电极对应不同的测试信号线,因而后续可以通过检测任意两个测试信号线之间的电阻,来判断触控电极或触控走线是否发生短路。

【技术实现步骤摘要】
一种触控显示面板、其测试方法及显示装置
本专利技术涉及触控
,尤指一种触控显示面板、其测试方法及显示装置。
技术介绍
触控与显示驱动器集成(TouchDisplayDriverIntegration,TDDI)技术是把触控芯片与显示芯片整合进单一芯片中,TDDI技术出现之前,系统架构因为显示芯片与触控芯片是分离的,这可能会导致一些显示噪声的存在,而TDDI技术由于实现了统一的控制,在噪声的管理方面会有更好的效果,因而TDDI技术具有很强的技术优势和市场竞争力。现有技术中使用TDDI技术的触控显示面板中,将公共电极层划分为多个触控单元,通过分时复用,即在显示时间段用作公共电极,提供公共(Vcom)电压,以及在触控时间段用于触控电极,提供触控电容信号,以达到触控与显示集成的效果。在触控显示面板的制作过程中,通常是先制作基板再进行驱动IC和印刷电路板压合,在制作基板的过程中会对该阶段的显示效果进行测试,与此同时,也需要对触控电极以及与触控单元连接的触控(Tx)走线进行测试,否则如果在下一个制作阶段才检测出触控不良,已绑定的芯片和电路板等物料则被浪费掉,增加不必要的生产成本。现有技术对触控显示面板进行测试时,由于触控单元数量较多,与各触控单元连接的接线端子(Bondingpin)细密集中,在未进行模组工艺之前,无法使用电信号检测(ET)设备对每个pin进行分别测试其电学特性。通常将所有的触控单元的Tx走线通过开关(Switch)连接在一起,在检查画面时,统一供给Vcom信号,若存在Tx走线断路(Open)时,触控显示面板就会出现方格显示不良。但是,该方法只能检测出Tx走线或触控单元发生断路的情况,不能检测出Tx走线或触控单元发生短路(short)的情况,若存在Tx走线或触控单元发生短路(short)无法检测出来,同样会造成已绑定的芯片和电路板等物料则被浪费掉,增加不必要的生产成本。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种触控显示面板、其测试方法及显示装置,用以解决现有技术中存在的无法检测触控电极或触控走线是否存在短路的问题。本专利技术实施例提供了一种触控显示面板,包括:衬底基板,位于所述衬底基板的触控区域的多个呈阵列排布的触控电极,位于所述衬底基板的非触控区域的至少四条测试信号线,以及连接所述触控电极与对应的所述测试信号线的多条触控走线;其中,所述触控电极与周围的各所述触控电极对应不同的所述测试信号线;所述周围的各所述触控电极为所述触控电极沿行方向、列方向以及对角线方向上相邻的各所述触控电极。在一种可能的实现方式中,在本专利技术实施例提供的上述触控显示面板中,所述测试信号线为四条;在行方向、列方向以及对角线方向上,与所述触控电极相邻的两个所述触控电极对应相同的所述测试信号线。在一种可能的实现方式中,在本专利技术实施例提供的上述触控显示面板中,还包括:位于所述非触控区域的分别与各所述测试信号线连接的多个金属测试垫;所述金属测试垫,用于在测试时间段与电阻检测装置的输入端相连,以及向对应的所述测试信号线输入测试信号。在一种可能的实现方式中,在本专利技术实施例提供的上述触控显示面板中,还包括:位于所述非触控区域的多个开关晶体管;各所述触控走线分别通过所述开关晶体管连接至对应的所述测试信号线。在一种可能的实现方式中,在本专利技术实施例提供的上述触控显示面板中,还包括:位于所述非触控区域的与各所述开关晶体管的栅极相连的开关信号线。在一种可能的实现方式中,在本专利技术实施例提供的上述触控显示面板中,还包括:位于所述非触控区域的分别与各所述触控走线连接的金属衬垫;所述金属衬垫位于所述开关晶体管与对应的触控电极之间,用于连接触控检测芯片。在一种可能的实现方式中,在本专利技术实施例提供的上述触控显示面板中,所述触控电极和所述触控走线位于不同的膜层;各所述触控电极通过通孔与对应的所述触控走线相连。在一种可能的实现方式中,在本专利技术实施例提供的上述触控显示面板中,各所述触控电极复用为公共电极。本专利技术实施例还提供了一种上述触控显示面板的测试方法,包括:检测任意两条测试信号线之间的电阻;判断检测到的电阻是否小于预设阈值;若是,则与电阻小于预设阈值的两条所述测试信号线相连的两个触控电极之间或两条触控走线之间存在短路。在一种可能的实现方式中,在本专利技术实施例提供的上述测试方法中,在所述检测任意两条测试信号线之间的电阻之前或之后,还包括:向各所述测试信号线输入相同的测试信号;检测各所述触控电极所在位置的显示亮度是否存在显示异常;若是,则确定显示异常所在位置对应的所述触控走线存在断路。在一种可能的实现方式中,在本专利技术实施例提供的上述测试方法中,所述触控显示面板还包括位于所述非触控区域的多个开关晶体管,且各所述触控走线分别通过所述开关晶体管连接至对应的所述测试信号线;在所述检测任意两条测试信号线之间的电阻,以及所述向各所述测试信号线输入相同的测试信号之前,还包括:开启各所述开关晶体管,以使各所述触控走线与对应的测试信号线导通。在一种可能的实现方式中,在本专利技术实施例提供的上述测试方法中,所述触控显示面板还包括:位于所述非触控区域的与各所述开关晶体管的栅极相连的开关信号线。所述开启所述开关晶体管,具体包括:向所述开关信号线输入开启信号。本专利技术实施例还提供了另一种上述触控显示面板的测试方法,包括:向各所述测试信号线输入相同的测试信号;检测各所述触控电极所在位置的显示亮度是否存在显示异常;若是,则确定显示异常所在位置对应的所述触控走线存在断路。本专利技术实施例还提供了一种显示装置,包括:上述触控显示面板。本专利技术有益效果如下:本专利技术实施例提供了一种触控显示面板、其测试方法及显示装置,该触控显示面板,包括:衬底基板,位于衬底基板的触控区域的多个呈阵列排布的触控电极,位于衬底基板的非触控区域的至少四条测试信号线,以及连接触控电极与对应的测试信号线的多条触控走线;其中,触控电极与周围的各触控电极对应不同的测试信号线;周围的各触控电极为触控电极沿行方向、列方向以及对角线方向上相邻的各触控电极。本专利技术实施例提供的触控显示面板中,通过在非触控区域设置至少四条测试信号线,且触控电极与周围的各触控电极对应不同的测试信号线,因而后续可以通过检测任意两个测试信号线之间的电阻,来判断触控电极或触控走线是否发生短路。附图说明图1a为本专利技术实施例提供的触控显示面板的结构示意图之一;图1b为本专利技术实施例提供的触控显示面板的结构示意图之二;图2a和图2b为本专利技术实施例中的触控电极的分布示意图;图3为本专利技术实施例提供的触控显示面板的结构示意图之三;图4为本专利技术实施例提供的上述触控显示面板的测试方法的流程图之一;图5为本专利技术实施例提供的上述触控显示面板的测试方法的流程图之二;其中,100、触控区域;101、触控电极;102、触控走线;103、通孔;200、非触控区域;201、测试信号线;202、开关晶体管;203、开关信号线;204、金属测试垫;205、金属衬垫;206、过孔;300、电阻检测装置。具体实施方式针对现有技术中存在的无法检测触控电极或触控走线是否存在短路的问题,本专利技术实施例提供了一种触控显示面板、其测试方法及显示装置。下面结合附图,对本专利技术实施例提供的触控显示面板、其测试方法及显示装置的具体实施方式进本文档来自技高网
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一种触控显示面板、其测试方法及显示装置

【技术保护点】
一种触控显示面板,其特征在于,包括:衬底基板,位于所述衬底基板的触控区域的多个呈阵列排布的触控电极,位于所述衬底基板的非触控区域的至少四条测试信号线,以及连接所述触控电极与对应的所述测试信号线的多条触控走线;其中,所述触控电极与周围的各所述触控电极对应不同的所述测试信号线;所述周围的各所述触控电极为所述触控电极沿行方向、列方向以及对角线方向上相邻的各所述触控电极。

【技术特征摘要】
1.一种触控显示面板,其特征在于,包括:衬底基板,位于所述衬底基板的触控区域的多个呈阵列排布的触控电极,位于所述衬底基板的非触控区域的至少四条测试信号线,以及连接所述触控电极与对应的所述测试信号线的多条触控走线;其中,所述触控电极与周围的各所述触控电极对应不同的所述测试信号线;所述周围的各所述触控电极为所述触控电极沿行方向、列方向以及对角线方向上相邻的各所述触控电极。2.如权利要求1所述的触控显示面板,其特征在于,所述测试信号线为四条;在行方向、列方向以及对角线方向上,与所述触控电极相邻的两个所述触控电极对应相同的所述测试信号线。3.如权利要求1所述的触控显示面板,其特征在于,还包括:位于所述非触控区域的分别与各所述测试信号线连接的多个金属测试垫;所述金属测试垫,用于在测试时间段与电阻检测装置的输入端相连,以及向对应的所述测试信号线输入测试信号。4.如权利要求1所述的触控显示面板,其特征在于,还包括:位于所述非触控区域的多个开关晶体管;各所述触控走线分别通过所述开关晶体管连接至对应的所述测试信号线。5.如权利要求4所述的触控显示面板,其特征在于,还包括:位于所述非触控区域的与各所述开关晶体管的栅极相连的开关信号线。6.如权利要求4所述的触控显示面板,其特征在于,还包括:位于所述非触控区域的分别与各所述触控走线连接的金属衬垫;所述金属衬垫位于所述开关晶体管与对应的触控电极之间,用于连接触控检测芯片。7.如权利要求1-6任一项所述的触控显示面板,其特征在于,所述触控电极和所述触控走线位于不同的膜层;各所述触控电极通过通孔与对应的所述触控走线相连。8.如权利要求1-6任一项所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:王立森马俊才徐朝哲黄式强王盛
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司合肥京东方光电科技有限公司
类型:发明
国别省市:北京,11

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