一种采用电火花切割技术快速切割CdS单晶体的方法技术

技术编号:15488522 阅读:236 留言:0更新日期:2017-06-03 06:16
本发明专利技术设计一种用于CdS单晶体的切割方法,属于半导体材料的加工领域。步骤如下,用平面磨床将CdS晶锭的生长面磨平;用X射线衍射仪对磨平的端面进行定向;对CdS晶锭进行滚圆,然后进行主参考面和副参考面制作;用真空吸附台将CdS晶锭吸附住,晶锭的主参考面朝下;调整电火花切割机切割参数,对晶锭进行切割;切割完成后,依次采用煤油浸泡、热酒精对切割后的晶片进行冲洗,然后将切割卡具放在温度为80℃的热水中,使胶软化,将晶片取下,进行下一步操作。采用非接触式的电火花切割技术对n型CdS晶锭进行切割,可以大大的提高切割效率、减少碎片的产生。

【技术实现步骤摘要】
一种采用电火花切割技术快速切割CdS单晶体的方法
本专利技术设计一种用于CdS单晶体的切割方法,属于半导体材料的加工领域。
技术介绍
硫化镉(CdS)晶体是带宽为2.4eV的直接跃迁型Ⅱ一VI族化合物半导体材料。CdS单晶的优异光电性质使其在探测器、太阳能电池,红外视窗等半导体器件制备上具有广泛的应用。CdS晶体的加工包括定向、滚圆、切割、研磨、抛光、清洗等工艺,在后续的研磨、抛光工序之前,需要先将晶锭切割成表面平整、厚度均一的切割片,切割工艺的好坏直接影响后续的加工工艺。由于CdS晶锭的厚度较小(通常小于1cm),常采用单线切割工艺对其进行切割。在单线切割工艺中,采用的切割线为金刚线,依靠金刚线和CdS晶体间的剧烈摩擦,使材料破裂并从母体表面脱落下来,从而达到切割的效果。由于CdS晶体的硬度小(莫氏硬度仅为3.3)、脆性大,在单线切割过程中,极易出现碎片现象,导致单线切割成品率过低;此外,采用传统单线切割工艺时,晶体的定向是通过以下步骤来完成:将晶锭固定在切割机样品台上,先从晶锭上切割下一小片并对切割片进行定向,根据晶向偏移量来调整样品台的角度,在这个过程中定向、样品台角度调节以及切割误差,使得传统的单线切割片晶向精度不高(偏差往往为0.3°~0.5°);再者,采用传统的单线切割方法对CdS晶锭进行切割时,晶锭的滚圆操作过程会比较繁琐,若操作不当会使切割片为椭圆形。
技术实现思路
鉴于现有技术的状况及不足,本专利技术针对低阻n型CdS单晶晶体的切割,提供了一种采用电火花切割技术快速切割CdS单晶体的方法,电火花切割技术,是依靠电能和热能进行材料去除,是一种非接触性的切割方法,此方法既可以大大降低碎片的风险,同时也可以大大提高加工效率。本专利技术为实现上述目的,所采用的技术方案是:一种采用电火花切割技术快速切割CdS单晶体的方法,其特征在于:步骤如下,第一步,用高温蜡将CdS晶锭的剥离面粘贴在一个总厚度变化小于5μm的铸铁托上,用平面磨床将CdS晶锭的生长面磨平;第二步,用X射线衍射仪对磨平的端面进行定向,根据晶向偏离(0001)的偏移量进行调整,对生长面再次进行平面磨,直到该端面偏离正晶向的角度小于0.5°;第三步,将CdS晶锭从铸铁托上取下,用高温蜡将已磨平的生长面贴在铸铁托上,用平面磨床将晶锭的剥离面磨平,然后将铸铁块装卡到滚圆磨床的样品台上,先对CdS晶锭进行滚圆,然后进行主参考面和副参考面制作;第四步,滚圆和参考面制作完成之后,将CdS晶锭从铸铁块上取下,用酒精将CdS晶锭擦洗干净,然后用真空吸附台将CdS晶锭吸附住,晶锭的主参考面朝下,主参考面与卡具水平面留有一定间隙,可以放下一个石墨条,在石墨条上涂覆上一层厚度约为5mm的固体胶,将石墨条放到该间隙中,使CdS晶锭主参考面与固体胶接触,固定台子侧面的螺丝,使石墨条固定,静置使固体胶凝固,CdS晶锭就粘贴在石墨条上,这样切割后的晶片会靠胶的作用不会脱离石墨条,可以防止切完的晶片掉落,或者发生倾斜与其他晶片发生磕碰而出现碎片事故;调整电火花切割机切割参数,对晶锭进行切割,脉冲宽度为15-20,脉间倍数为6-10,功放为4-6,进给速度为0.8-2.8mm/min;第五步,切割完成后,依次采用煤油浸泡、热酒精对切割后的晶片进行冲洗,然后将切割卡具放在温度为80℃的热水中,使胶软化,将晶片取下,进行下一步操作。本专利技术的有益效果是:利用平面磨床将晶锭生长面磨平,对其进行定向,定向完成后对晶锭进行滚圆,这样能保证最终切割片为圆形而非椭圆形;真空吸附台的设计,既能保证切割片的晶向偏差小于0.2°,又能防止切割片从卡具上掉落而摔碎。采用非接触式的电火花切割技术对n型CdS晶锭进行切割,可以大大的提高切割效率、减少碎片的产生。附图说明图1本专利技术电火花切割加工晶锭的示意图;图2为本专利技术CdS晶锭的示意图;图3为本专利技术CdS晶锭的剥离面与铸铁托粘贴在一起的示意图;图4为本专利技术CdS晶锭的生长面加工后的示意图;图5为本专利技术CdS晶锭的晶向偏离量调整后的示意图;图6为本专利技术CdS晶锭的生长面与铸铁托粘贴在一起的示意图;图7为本专利技术CdS晶锭的剥离面加工后的示意图;图8为本专利技术CdS晶锭进行滚圆的示意图;图9为本专利技术CdS晶锭进行参考面制作的示意图;图10为本专利技术晶锭固定到自制电火花切割机卡具上的示意图;图11为图10的侧视图;图12为真空吸附台的结构示意图。具体实施方式一种采用电火花切割技术快速切割CdS单晶体的方法,步骤如下:第一步,用高温蜡3将CdS晶锭1的剥离面1-1粘贴在一个总厚度变化小于5μm的铸铁托2上,用平面磨床将CdS晶锭1的生长面1-2磨平,如图2、图3所示。第二步,用X射线衍射仪对磨平的端面进行定向,根据晶向偏离(0001)的偏移量进行调整,对生长面1-2再次进行平面磨,直到该端面偏离正晶向的角度小于0.5°如图4、图5所示。第三步,将CdS晶锭1从铸铁托2上取下,用高温蜡3将已磨平的生长面1-2贴在铸铁托2上,用平面磨床将晶锭的剥离面1-1磨平,然后将铸铁块2装卡到滚圆磨床的样品台上,对CdS晶锭1进行滚圆和参考面制作,如图6、图7、图8、图9所示。第四步,将滚圆后的CdS晶锭1固定到电火花切割机4卡具4-1上,如图1、图10、图11所示,该卡具4-1材质为不锈钢,卡具4-1的水平面和竖直面垂直,竖直面上突出的部分为真空吸附台4-2,真空吸附台4-2面与卡具4-1的竖直面平行,且真空吸附台4-2台面的总厚度变化小于5μm,真空吸附台4-2上设有附气孔4-2-3、十字槽4-2-2和圆形刻槽4-2-4,目的是保证晶锭能够吸附牢固,在粘胶过程中位置不会移动。用真空吸附台4-2将CdS晶锭1吸附住,晶锭主参考面1-3朝下,主参考面1-3与卡具4-1水平面留有一定间隙,可以放下一个石墨条6,在石墨条6上涂覆上一层厚度约为5mm的固体胶5,将石墨条6放到该间隙中,使CdS晶锭1大参考面与固体胶5接触,固定台子侧面的螺丝,使石墨条6固定,静置使固体胶5凝固,CdS晶锭1就粘贴在石墨条6上,这样切割后的晶片会靠胶的作用不会脱离石墨条6,可以防止切完的晶片掉落,或者发生倾斜与其他晶片发生磕碰而出现碎片事故;调整电火花切割机4切割参数,对晶锭进行切割,脉冲宽度为15-20,脉间倍数为6-10,功放为4-6,进给速度为0.8-2.8mm/min。第五步,切割完成后,依次采用煤油浸泡、热酒精对切割后的晶片进行冲洗,然后将切割卡具4-1放在温度为80℃的热水中,使胶软化,将晶片取下,进行下一步操作。真空吸附台4-2为圆状体,在真空吸附台4-2一端面上,设有四个固定孔4-2-1,在四个固定孔4-2-1之间的台面上设有十字槽4-2-2,十字槽4-2-2交叉中心点为吸附气孔4-2-3,沿吸附气孔4-2-3向外的十字槽4-2-2上,间隔设有两道圆形刻槽4-2-4,十字槽4-2-2与两道圆形刻槽4-2-4相通,如图12所示。真空吸附台4-2的材质为有机玻璃。以下结合实施例对本专利技术进行详细说明。实施例1、电火花切割工艺参数的选择,脉冲宽度为17,脉间倍数为8,功放选择为5,进给速度为2.0mm/min。实施例2、电火花切割工艺参数的选择,脉冲宽度为15,脉间倍数为6,功放选择为4,本文档来自技高网...
一种采用电火花切割技术快速切割CdS单晶体的方法

【技术保护点】
一种采用电火花切割技术快速切割CdS单晶体的方法,其特征在于:步骤如下,第一步,用高温蜡(3)将CdS晶锭(1)的剥离面(1‑1)粘贴在一个总厚度变化小于5 μm的铸铁托(2)上,用平面磨床将CdS晶锭(1)的生长面(1‑2)磨平;第二步,用X射线衍射仪对磨平的端面进行定向,根据晶向偏离(0001)的偏移量进行调整,对生长面(1‑2)再次进行平面磨,直到该端面偏离正晶向的角度小于0.5°;第三步,将CdS晶锭(1)从铸铁托(2)上取下,用高温蜡(3)将已磨平的生长面(1‑2)贴在铸铁托(2)上,用平面磨床将晶锭的剥离面(1‑1)磨平,然后将铸铁块(2)装卡到滚圆磨床的样品台上,先对CdS晶锭(1)进行滚圆,然后进行主参考面(1‑3)和副参考面(1‑4)制作;第四步,滚圆和参考面制作完成之后,将CdS晶锭(1)从铸铁块(2)上取下,用酒精将CdS晶锭(1)擦洗干净,然后用真空吸附台(4‑2)将CdS晶锭(1)吸附住,晶锭的主参考面(1‑3)朝下,主参考面(1‑3)与卡具(4‑1)水平面留有一定间隙,可以放下一个石墨条(6),在石墨条(6)上涂覆上一层厚度约为5mm的固体胶(5),将石墨条(6)放到该间隙中,使CdS晶锭(1)主参考面(1‑3)与固体胶(5)接触,固定台子侧面的螺丝,使石墨条(6)固定,静置使固体胶(5)凝固,CdS晶锭(1)就粘贴在石墨条(6)上,这样切割后的晶片会靠胶的作用不会脱离石墨条(6),可以防止切完的晶片掉落,或者发生倾斜与其他晶片发生磕碰而出现碎片事故;调整电火花切割机(4)切割参数,对晶锭进行切割,脉冲宽度为15‑20,脉间倍数为6‑10,功放为4‑6,进给速度为0.8‑2.8 mm/min;第五步,切割完成后,依次采用煤油浸泡、热酒精对切割后的晶片进行冲洗,然后将切割卡具(4‑1)放在温度为80℃的热水中,使胶软化,将晶片取下,进行下一步操作。...

【技术特征摘要】
1.一种采用电火花切割技术快速切割CdS单晶体的方法,其特征在于:步骤如下,第一步,用高温蜡(3)将CdS晶锭(1)的剥离面(1-1)粘贴在一个总厚度变化小于5μm的铸铁托(2)上,用平面磨床将CdS晶锭(1)的生长面(1-2)磨平;第二步,用X射线衍射仪对磨平的端面进行定向,根据晶向偏离(0001)的偏移量进行调整,对生长面(1-2)再次进行平面磨,直到该端面偏离正晶向的角度小于0.5°;第三步,将CdS晶锭(1)从铸铁托(2)上取下,用高温蜡(3)将已磨平的生长面(1-2)贴在铸铁托(2)上,用平面磨床将晶锭的剥离面(1-1)磨平,然后将铸铁块(2)装卡到滚圆磨床的样品台上,先对CdS晶锭(1)进行滚圆,然后进行主参考面(1-3)和副参考面(1-4)制作;第四步,滚圆和参考面制作完成之后,将CdS晶锭(1)从铸铁块(2)上取下,用酒精将CdS晶锭(1)擦洗干净,然后用真空吸附台(4-2)将CdS晶锭(1)吸附住,晶锭的主参考面(1-3)朝下,主参考面(1-3)与卡具(4-1)水平面留有一定间隙,可以放下一个石墨条(6),在石墨条(6)上涂覆上一层厚度约为5mm的固体胶(5),将石墨条(6)放到该间隙中,使CdS晶锭(1)主参考面(1-3)与固体胶(5)接触,固定台子...

【专利技术属性】
技术研发人员:高飞李晖张弛徐世海王磊王添依张海磊张颖武司华青
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第四十六研究所
类型:发明
国别省市:天津,12

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