【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示
,尤其涉及一种面板标记侦测方法及面板标记区域的Mura补偿方法。
技术介绍
随着液晶显示器(LiquidCrystalDisplay,LCD)向着更轻、更薄、更大的方向发展,因实际制程上的一些不可控因素,使LCD显示面板各处的物理特性存在差异,导致在大于一个像素点的范围内,显示纯灰度图像时亮度不均匀的现象,即业界所称的Mura现象。Mura现象已经成为制约LCD发展的瓶颈。通过提高工艺水平或者提高原材料纯度等方法可降低Mura现象的发生概率。对于已经制作完成的LCD显示面板,其物理特性已经定型,为了弥补LCD制程上的瑕疵而产生的Mura现象,此时可以通过灰度补偿的方式来校正像素点的亮度,进而改善Mura现象。灰度补偿是通过改变像素的灰度值来实现亮度均匀性的改善:即通过相机拍摄出灰度画面的Mura状况,然后确定灰度图像中的正常区域和Mura区域,最后根据正常区域的灰度值反向补偿Mura区域的灰度值,在显示纯灰度图像时,对于显示亮度比较高的像素施加较低的灰度值,对于显示亮度比较低的像素,施加较高的灰度值,使得灰度补偿后各像素的亮度接近一致,实现Mura现象的改善。请参阅图1并结合图2,为了保证LCD显示面板100在生产过程中不要出现刮痕,LCD显示面板100表面的偏光片上贴有透明的保护膜,但是保护膜上会有区别偏光片供应商的字母喷印标示(Mark),该Mark一般由2~ ...
【技术保护点】
一种面板标记侦测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、提供一侦测机台及待侦测的LCD显示面板(1),对所述侦测机台进行设置,以使其在一固定侦测区(10)对LCD显示面板(1)进行侦测;所述LCD显示面板(1)上具有标记组(20),所述标记组(20)包括数个相对分离的标记单元(21);步骤2、将LCD显示面板(1)放置于侦测机台上,所述侦测机台在固定侦测区(10)对LCD显示面板(1)上的标记单元(21)进行侦测;步骤3、根据步骤2中的侦测结果确定下一步操作;若所述侦测机台侦测到标记组(20)中的部分标记单元(21),则标记该部分标记单元(21)的位置,然后进行步骤4;若所述侦测机台侦测到标记组(20)中的全部标记单元(21),则直接跳至步骤5;若所述侦测机台未侦测到标记单元(21),则报警提示错误,并根据标记组(20)的实际位置对所述侦测机台进行设置重新确定一固定侦测区(10),然后返回步骤2;步骤4、根据所述侦测机台标记的部分标记单元(21)重新设置一应变侦测区(30),所述侦测机台在该应变侦测区(30)对LCD显示面板(1)进行侦测,使所述侦测机台在该应变侦测区(30)侦测到标记 ...
【技术特征摘要】
1.一种面板标记侦测方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1、提供一侦测机台及待侦测的LCD显示面板(1),对所述侦测
机台进行设置,以使其在一固定侦测区(10)对LCD显示面板(1)进行侦
测;
所述LCD显示面板(1)上具有标记组(20),所述标记组(20)包括
数个相对分离的标记单元(21);
步骤2、将LCD显示面板(1)放置于侦测机台上,所述侦测机台在固
定侦测区(10)对LCD显示面板(1)上的标记单元(21)进行侦测;
步骤3、根据步骤2中的侦测结果确定下一步操作;
若所述侦测机台侦测到标记组(20)中的部分标记单元(21),则标记
该部分标记单元(21)的位置,然后进行步骤4;
若所述侦测机台侦测到标记组(20)中的全部标记单元(21),则直接
跳至步骤5;
若所述侦测机台未侦测到标记单元(21),则报警提示错误,并根据标
记组(20)的实际位置对所述侦测机台进行设置重新确定一固定侦测区
(10),然后返回步骤2;
步骤4、根据所述侦测机台标记的部分标记单元(21)重新设置一应变
侦测区(30),所述侦测机台在该应变侦测区(30)对LCD显示面板(1)
进行侦测,使所述侦测机台在该应变侦测区(30)侦测到标记组(30)中全
部标记单元(21)以侦测到完整的标记组(20),然后进行步骤5;
步骤5、所述侦测机台对侦测到的标记组(20)中全部标记单元(21)
的位置进行记录,从而完成对LCD显示面板(1)上标记组(20)的侦测。
2.如权利要求1所述的面板标记侦测方法,其特征在于,所述步骤4中
设置的应变侦测区(30)为以侦测到的部分标记单元(21)的位置为中心点
的区域。
3.如权利要求2所述的面板标记侦测方法,其特征在于,所述应变侦测
区(30)的中心点到其边缘的距离大于所述标记组(20)整体的长度。
4.如权利要求3所述的面板标记侦测方法,其特征在于,所述步骤3中
设置的应变侦测区(30)为正方形,所述应变侦测区(30)的边长的一半大
于所述标记组(20)整体的长度。
5.如权利要求3所述的面板标记侦测方法,其特征在于,所述步骤3中
设置的应变侦测区(30)为圆形,所述应变侦测区的半径大于所述标记组
(20)整体的长度。
6.如权利要求1所述的面板标记侦测方法,其特征在于,所述步骤1中
提供的LCD显示面板(1)包括偏光片、及设于偏光片上的保护膜,所述保
护膜用于保护偏光片的表面,所述标记组(20)印制于所述保护膜上。
7.如权利要求4所述的面板标记侦测方法,其特征在于,所述保护膜...
【专利技术属性】
技术研发人员:张华,
申请(专利权)人:深圳市华星光电技术有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。