用于测量电子元件漏电流的多工位测量设备制造技术

技术编号:14523716 阅读:9 留言:0更新日期:2017-02-02 02:05
本实用新型专利技术公开了一种用于测量电子元件漏电流的多工位测量设备,其中,分压电阻器的第一端用于连接高压电源的正极,分压电阻器的第二端分别与常闭按钮的第一端、放电二极管的正极、电流计的正极输入端和滑动电阻器的第一端连接,常闭按钮的第二端、放电二极管的负极、电流计的负极输入端和波段开关的正极中心端相互连接,滑动电阻器的第二端与电压表的正极输入端连接,电压表的负极输入端与波段开关的负极中心端连接且用于连接高压电源的负极,波段开关的多个正极分线端和多个负极分线端分别与多工位阵列测试夹具对应连接。本实用新型专利技术可实现对高压电子元件在各种环境条件下的漏电流的快速测试和批量测试,测试过程安全,所需连接导线数目最少。

用于测量电子元件漏电流的多工位测量设备

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种用于测量电子元件漏电流的测量设备,尤其涉及一种用于测量电子元件漏电流且能够实现批量测量的多工位测量设备。
技术介绍
对电子元件漏电流的测试没有现成的设备,一般均是手工搭建一个测量回路,将电源接入一个电流计和待测元件串联的回路进行测量。上述传统测量方式存在如下问题:(1)当测量电压低于1000V的回路,不涉及安全问题,而测量电压高于1000V(如10kV)时,测试过程对人体存在严重的安全隐患;(2)当待测的元件较多时,需要逐一更换被测件,不适宜批量生产;(3)如果待测元件需要在特殊环境中进行测量,测量一个元件所用的时间增加,对批量测试更不利;(4)在特殊环境中测试多个元件时需要的连接导线数量为元件的个数+1条,当元件数量较大时所需连接导线较多。
技术实现思路
本技术的目的就在于为了解决上述问题而提供一种能够实现批量测量的用于测量电子元件漏电流的多工位测量设备。本技术通过以下技术方案来实现上述目的:一种用于测量电子元件漏电流的多工位测量设备,包括电流计、电压表、滑动电阻器、分压电阻器、常闭按钮、放电二极管、波段开关和用于放置多个被测电子元件的多工位阵列测试夹具,所述分压电阻器的第一端用于连接高压电源的正极,所述分压电阻器的第二端分别与所述常闭按钮的第一端、所述放电二极管的正极、所述电流计的正极输入端和所述滑动电阻器的第一端连接,所述常闭按钮的第二端、所述放电二极管的负极、所述电流计的负极输入端和所述波段开关的正极中心端相互连接,所述滑动电阻器的第二端与所述电压表的正极输入端连接,所述电压表的负极输入端与所述波段开关的负极中心端连接且用于连接高压电源的负极,所述波段开关的多个正极分线端和多个负极分线端分别与所述多工位阵列测试夹具的多个正极输入端和多个负极输入端对应连接。上述结构中,电压表用于调试,根据其读数调节滑动电阻器至合适位置;电流计用于测量对应待测电子元件的漏电流;常闭按钮按下时电流计与被测电子元件构成串联回路可以测量电流,复位后电流计被短接,避免电流计被损坏;放电二极管为保护电流计的单元,其额定值取电流计最高耐压的0.5倍;波段开关是具有一个正极中心端、一个负极中心端、多个正极分线端和多个负极分线端的选择开关,用于实现中心端和不同分线端之间的连接;多工位阵列测试夹具用于放置多个被测电子元件,夹具内布置有多条连接导线,以便于批量测试电子元件,一般采用矩阵结构。进一步,为了便于安装、携带和应用,所述多工位测量设备还包括机柜,所述机柜上设有用于连接高压电源的正极电源接线端和负极电源接线端以及用于与所述多工位阵列测试夹具连接的测试接线端,所述分压电阻器的第一端和所述电压表的负极输入端分别与所述机柜上的正极电源接线端和负极电源接线端对应连接,所述波段开关的多个正极分线端和多个负极分线端分别与所述测试接线端的内端对应连接,所述测试接线端的外端分别与所述多工位阵列测试夹具的多个正极输入端和多个负极输入端对应连接;所述电流计的接线端、所述电压表的接线端、所述滑动电阻器的接线端、所述分压电阻器、所述常闭按钮的接线端、所述放电二极管和所述波段开关的接线端均置于所述机柜内,所述电流计的表盘、所述电压表的表盘、所述滑动电阻器的旋钮、所述常闭按钮的按钮柱和所述波段开关的操作手柄均置于所述机柜的操作面板上。本技术的有益效果在于:本技术通过将一套测量装置、一个波段开关和一个可以安装多个电子元件的多工位阵列测试夹具集成于一体,可实现对高压电子元件在各种环境条件下的漏电流的快速测试和批量测试,采用常闭按钮控制电流计是否接入测试电路,测试过程没有安全隐患,而且连接导线的数量为电子元件个数的平方根的2倍,连接到不同环境中时所需的连接导线数目最少;本设备集成度高,可批量生产,适用于大批量测试电子元件漏电流的场合。附图说明图1是本技术所述用于测量电子元件漏电流的多工位测量设备的结构示意图,图中示出了内部电路结构;图2是本技术所述多工位阵列测试夹具的电路结构示意图;图3是本技术所述波段开关的原理结构示意图。具体实施方式下面结合附图对本技术作进一步说明:如图1、图2和图3所示,本技术所述用于测量电子元件漏电流的多工位测量设备包括机柜7、电流计1、电压表3、滑动电阻器4、分压电阻器5、常闭按钮2、放电二极管13(即ESD)、波段开关6和用于放置多个被测电子元件的多工位阵列测试夹具(见图2,未标记),机柜7上设有用于连接高压电源12(即VDC,具体电压根据测试需求设定)的正极电源接线端8和负极电源接线端9以及用于与所述多工位阵列测试夹具连接的测试接线端10,分压电阻器5的第一端与正极电源接线端8的内端对应连接,分压电阻器5的第二端分别与常闭按钮2的第一端、放电二极管13的正极、电流计1的正极输入端和滑动电阻器4的第一端连接,常闭按钮2的第二端、放电二极管13的负极、电流计1的负极输入端和波段开关6的正极中心端X2相互连接,滑动电阻器4的第二端与电压表3的正极输入端连接,电压表3的负极输入端与波段开关6的负极中心端X1连接且与负极电源接线端9的内端对应连接,波段开关6的多个正极分线端b1…bn和多个负极分线端a1…an分别与测试接线端10的内端对应连接,测试接线端10的外端分别与所述多工位阵列测试夹具的多个正极输入端和多个负极输入端对应连接。上述波段开关6的多个正极分线端、测试接线端10的多个正极分线端的外端、所述多工位阵列测试夹具的多个正极输入端在图中均用b1…bn表示,波段开关6的多个负极分线端、测试接线端10的多个负极分线端的外端、所述多工位阵列测试夹具的多个负极输入端在图中均用a1…an表示;电流计1的接线端、电压表3的接线端、滑动电阻器4的接线端、分压电阻器5、常闭按钮2的接线端、放电二极管13和波段开关6的接线端均置于机柜7内,电流计1的表盘、电压表3的表盘、滑动电阻器4的旋钮、常闭按钮2的按钮柱和波段开关6的操作手柄均置于机柜7的操作面板上。图1中还示出了机柜7底部的万向轮。上述多工位阵列测试夹具的机械结构和导线连接结构根据实际需要制作,在满足电子元件的安装需求的条件下,其具体结构根据现有常规技术可轻易实现,所以在本技术中不作具体说明。如图1、图2和图3所示,本技术中的多工位阵列测试夹具采用10*10的矩阵结构,可以安装100个电子元件,图2中示出的电子元件为电容,根据需要也可为其它电子元件。使用时,将图1的高压电源12和图2的多工位阵列测试夹具分别与机柜7上的正极电源接线端8、负极电源接线端9和测试接线端10对应连接,调试完成后,根据需要旋动波段开关6,选择对应的待测电子元件,按下常闭按钮2的按钮柱,根据电流计1的读数即可测量对应电子元件的漏电流,比如,当波段开关6的旋钮位置对应的正极分线端和负极分线端为1、1时,所测元件即为多工位阵列测试夹具中编码为11的电子元件,同理,通过切换波段开关6可测量编码为12、21、22….的电子元件,从而可完成多工位阵列测试夹具中所有电子元件的漏电流测量。如果待测元件要求在高温(或其他特殊环境)下进行测量,可将多工位阵列测试夹具放入烘箱,将其连接线接入机柜7的对应连接端子即可。上述实施例只是本技术的较佳实施例,并不是对本本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量电子元件漏电流的多工位测量设备,其特征在于:包括电流计、电压表、滑动电阻器、分压电阻器、常闭按钮、放电二极管、波段开关和用于放置多个被测电子元件的多工位阵列测试夹具,所述分压电阻器的第一端用于连接高压电源的正极,所述分压电阻器的第二端分别与所述常闭按钮的第一端、所述放电二极管的正极、所述电流计的正极输入端和所述滑动电阻器的第一端连接,所述常闭按钮的第二端、所述放电二极管的负极、所述电流计的负极输入端和所述波段开关的正极中心端相互连接,所述滑动电阻器的第二端与所述电压表的正极输入端连接,所述电压表的负极输入端与所述波段开关的负极中心端连接且用于连接高压电源的负极,所述波段开关的多个正极分线端和多个负极分线端分别与所述多工位阵列测试夹具的多个正极输入端和多个负极输入端对应连接。

【技术特征摘要】
1.一种用于测量电子元件漏电流的多工位测量设备,其特征在于:包括电流计、电压表、滑动电阻器、分压电阻器、常闭按钮、放电二极管、波段开关和用于放置多个被测电子元件的多工位阵列测试夹具,所述分压电阻器的第一端用于连接高压电源的正极,所述分压电阻器的第二端分别与所述常闭按钮的第一端、所述放电二极管的正极、所述电流计的正极输入端和所述滑动电阻器的第一端连接,所述常闭按钮的第二端、所述放电二极管的负极、所述电流计的负极输入端和所述波段开关的正极中心端相互连接,所述滑动电阻器的第二端与所述电压表的正极输入端连接,所述电压表的负极输入端与所述波段开关的负极中心端连接且用于连接高压电源的负极,所述波段开关的多个正极分线端和多个负极分线端分别与所述多工位阵列测试夹具的多个正极输入端和多个负极输入端对应连接。2.根据权利要求1所述的用于测量电子元件...

【专利技术属性】
技术研发人员:鱼军寿李晓军沈剑波孙湛支永东
申请(专利权)人:成都宏明电子股份有限公司
类型:新型
国别省市:四川;51

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1