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一种射频功率LDMOS器件及其制备方法技术
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文档序号:9992004
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本发明涉及一种射频功率LDMOS器件及其制备方法,包括源极、栅极、漏极,以及硅型衬底,P-epi区域,P+sinker区域,P+base区域,栅氧化层,LDD区域,所述LDD区域为漂移区。优选地,栅氧化层边缘具有鸟嘴结构,并采用侧墙工艺。在...
该专利属于上海联星电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海联星电子有限公司授权不得商用。
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