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本发明提供一种芯片故障定位方法、装置及系统。本发明芯片故障定位方法，包括：在调试模式下获取调试指令并执行；在测试模式下获取扫描链模式指令；根据所述扫描链模式指令控制芯片的触发器形成扫描链；在所述测试模式下获取测试数据；将所述测试数据输入扫描...
该专利属于龙芯中科技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过龙芯中科技术有限公司授权不得商用。

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