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本发明涉及基因测序技术领域，提供了一种基于多步双向De Bruijn图的变长kmer查询的顶点扩展方法，包括：步骤A：读取测序数据源文件，构造多步双向De Bruijn图；步骤B：在所述多步双向De Bruijn图中对分叉顶点的变长kmer...
该专利属于深圳先进技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过深圳先进技术研究院授权不得商用。

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