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本发明涉及光学检测领域，公开了一种拉曼光谱测试探针，包括基片和阵列纳米金属立柱，所述基片测试表面为抛光面，阵列纳米金属立柱设于该抛光面上；所述阵列纳米金属立柱各立柱顶端为具有锥度的针尖结构。还公开了制作该拉曼光谱测试探针的方法，包括抛光、镀...
该专利属于福州高意光学有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过福州高意光学有限公司授权不得商用。

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