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高速互连通路串扰故障测试方法技术
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文档序号:9793997
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本发明公开一种高速互连通路串扰故障测试方法;首先基于串扰故障的形成原因,用改进传统的测试稳态故障的FAN算法对电路中的故障进行测;后运用静态时序分析,分析得出电路的时序信息,建立时间等式约束和时间不等式约束;再根据串扰故障的特征,分析其故障...
该专利属于桂林电子科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过桂林电子科技大学授权不得商用。
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