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本实用新型涉及天平式微力矩校准仪技术领域，具体公开了一种提高天平微力矩校准仪测量线性度的放大电路。该放大电路中高隔离度电路输入端与天平微力矩校准仪的位移信号和力信号相连，并输出位移跟随信号和力跟随信号，实现天平微力矩校准仪产生的位移信号和力...该专利属于北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院授权不得商用。