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本发明是一种半导体激光器芯片测试装置，包括两条垂直导轨，所述垂直导轨上安装有电路板和氧化绝缘铜件，所述氧化绝缘铜件安装在滑动模块上，所述垂直导轨安装在下方的铜基上，所述铜基上固定有不锈钢立柱、半导体激光器芯片和活塞，所述不锈钢立柱套有弹簧，...
该专利属于中国科学院苏州生物医学工程技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院苏州生物医学工程技术研究所授权不得商用。

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