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本发明公开了一种遗传与多输出支持向量机的联合优化算法，结合雷达后向散射实测数据，快速反演单层地表(均方根高度kσ＜1.5，均方根斜率s＜0.3)介电参数与粗糙度参数，其步骤包括：利用单层地表HH和VV极化雷达后向散射系数实测数据，获得同极化...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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