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本发明提出一种测试芯片功能的系统和方法，主要完成对芯片量产前进行的各种测试工作，确保芯片最初的设计功能已达到要求。本系统包括硬件测试平台和软件架构流程，硬件平台主要是提供整个测试系统的硬件测试环境，包括带有系统主控制器的主电路系统板、被测芯...
该专利属于合肥科盛微电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥科盛微电子科技有限公司授权不得商用。

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