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文档序号:9645926
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用于光学测量测试介质(4)的至少一个性质的分析仪器(1)包括:光源(20);光管理单元(22),用于将由所述光源(20)发射的光引导通过所述测试介质(4)中的检测空间(30);光检测单元(24),用于检测由测试介质(4)散射、反射或传送的所...
该专利属于ABB研究有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过ABB研究有限公司授权不得商用。
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