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本发明公开了一种缺陷处理方法，包括：通过SDDL-EXP，生成语法类缺陷模式；其中，所述SDDL-EXP为预定的值相关缺陷模式语言；根据所述语法类缺陷模式，在被测代码中查找检测点，并将所述语法类缺陷模式中的缺陷发生的条件实例化；根据预设的规...
该专利属于北京邮电大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京邮电大学授权不得商用。

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