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本发明公开了一种石英晶体微天平检测装置，包括中间层、密封垫片、封盖和石英晶片；中间层中心设有中间层凹槽，中间层凹槽底端设有左探头通孔和右探头通口；封盖上设有进样口和出样口；石英晶片位于中间层凹槽内，且在石英晶片底端中心设有一个开口向下的石英...
该专利属于东南大学所有，仅供学习研究参考，未经过东南大学授权不得商用。

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