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本发明公开了一种基于高精度插值的双基地合成孔径雷达成像方法，它是针对当前的双基地合成孔径雷达后向投影成像方法插值精度低的缺点，通过将高精度的非均匀快速傅里叶变换方法应用到时域成像插值步骤中，实现了高精度双基地合成孔径雷达成像。与现有的方法相...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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