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本发明提供一种多发光单元半导体激光器空间阈值电流的测试方法，有以下步骤：对多发光单元半导体激光器发出的光进行快、慢轴准直；在快慢轴准直镜的后面放置显微物镜，用于半导体激光器多个发光单元在空间上放大，放大后的发光单元通过孔径光阑将各个独立的发...
该专利属于西安炬光科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安炬光科技有限公司授权不得商用。

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