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具有在超过特定离子线性能量传递(LET)值时自动去活的集成电路制造技术
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下载具有在超过特定离子线性能量传递(LET)值时自动去活的集成电路的技术资料
文档序号:9569768
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本发明公开了集成电路以及制造和操作方法,其中响应感测电路内单个事件锁定条件的检测,选择性地禁用IC的用户电路,其中感测电路易于响应在具体线性能量传递水平的离子辐射而锁定。...
该专利属于德克萨斯仪器股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过德克萨斯仪器股份有限公司授权不得商用。
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