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本发明涉及一种测量仪器的辅助装置，具体是一种外径千分尺校准、内径百分表辅助校准装置。该辅助校准装置包括基板以及设于基板上并列设置的至少两量架；各量架均设有可让外径千分尺的测砧或测微螺杆架设于量架上的至少一个支撑部；设于某一量架的一个支撑部与...
该专利属于私立华联学院所有，仅供学习研究参考，未经过私立华联学院授权不得商用。

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