下载光纤涂覆层几何参数测量方法的技术资料

文档序号:9433129

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本发明公开了一种对单层或多层光纤涂覆层进行几何参数自动测量的方法。首先对光纤图像分别自左、右进行行扫描,预测像素值,以预测结果与实际值差异是否超过门限判定最外层涂覆层边界,将背景设为0;对图像首先采用分水岭法分割,对分割得到的区域标注等级;...
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