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一种OLED封装母板老化测试用样条制造技术
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文档序号:9422077
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本实用新型公开了一种OLED封装母板老化测试用样条,包括一组有机发光二极管、一组连接有机发光二极管阳极和阴极的共通电极、基板和盖板,有机发光二极管、共通电极、基板及盖板处于封装状态,其中,样条上位于共通电极上部的盖板被切除,共通电极暴露在外...
该专利属于四川虹视显示技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过四川虹视显示技术有限公司授权不得商用。
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