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通过策略性地将光电检测器件放置得尽可能靠近光信号进到光电电路布置中的进入点，硅基光电电路被形成为表现出减小的偏振相关损耗。虽然传入光信号将包括TE和TM模式两者，通过使信号在到达光电检测器之前必须沿其传播的光波导路径的长度最小化，与TM模式...
该专利属于思科技术公司所有，仅供学习研究参考，未经过思科技术公司授权不得商用。

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