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本发明公开了一种FDD?LTE远端射频单元驻波比检测方法：测量RRU下行板上和反馈链路延时；对每一个通道，CPU控制前反向切换开关，切换到前向进行功率统计，FPGA根据控制信号对相应通道进行基带功率和前向功率统计，首先统计基带功率，延迟测得...
该专利属于武汉邮电科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过武汉邮电科学研究院授权不得商用。

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