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本发明公开了提供一种更好的数字硬件电路诊断机制，通过将基于可满足的增量等价性检验方法应用到错误诊断过程中，利用候选区域内部结构的相似性，排除一些候选区域，提高错误检查的处理速度。通过将增量等价性检验方法、逻辑模拟以及布尔可满足性等多种形式化...
该专利属于北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学授权不得商用。

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