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本发明公开了一种基于交替迭代运算的荧光分子断层成像重建算法，交替使用了加权的代数重建技术与最速下降法来求解，其实现步骤如下：（1）获取测量数据；（2）建立测量数据与目标分布之间的线性关系；（3）构建有约束条件的2范数极小化问题；（4）交替使...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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