温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本文公开了一种用于判别光学膜的缺陷的方法。所述用于判别光学膜的缺陷的方法，包括（S1）拍摄传输的光学膜以选择异物存在的区域；以及（S2）在所述区域的异物中，当以平行于传输方向的两边和垂直于该传输方向的两边所构造的矩形包括具有最小面积的异物时...
该专利属于东友精细化工有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过东友精细化工有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。