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基于频谱功率特征的分块或块效应检测制造技术
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下载基于频谱功率特征的分块或块效应检测的技术资料
文档序号:9297900
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本发明涉及基于频谱功率特征的分块或块效应检测,其使用块边缘处的一维向量来找到由图像中的分块或块效应所产生的频谱特征。该图像的基带分量,例如亮度,被边缘增强,并然后将沿着每个水平行的像素值求和,以形成针对该图像的求和的边缘值的一维列向量。确定...
该专利属于特克特朗尼克公司所有,仅供学习研究参考,未经过特克特朗尼克公司授权不得商用。
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