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本发明公开了一种新型的材料厚度测量原理，该厚度测量原理为：利用平板电容的极板作为厚度测量的敏感元件，被测对象的厚度变化引起电容活动极板产生位移，导致平板电容器电容量的变化，通过测量此电容量的变化实现材料厚度的测量。该发明的测量对象适用于间断...
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