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本实用新型公开了一种测试电路及测试装置，以解决现有的方块电阻测试子电路不能确定未与待检测导电薄膜接触的探针，无法完成方块电阻的测试以及实现对导电薄膜生产过程中膜厚均匀性监控问题。本实用新型提供的一种测试电路，包括方块电阻测试子电路，方块电阻...该专利属于京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司授权不得商用。