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一种测试治具的快速升降结构，包括：一基座，用以固定于供被检测物检测使用的座体上，该基座凹设有一滑穴，并贯穿一轴孔；一滑座，滑置于该基座的滑穴中；以及一联动轴，含有一轴段，枢装于该基座的轴孔中，并于该轴段的第一端，轴向地突伸一联动段，令该联动...
该专利属于萧德兴所有，仅供学习研究参考，未经过萧德兴授权不得商用。

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