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本发明公开了一种消除提离效应的脉冲涡流检测方法及装置，所述检测方法具体包括：步骤1、对被测试件在不同的已知缺陷深度位置处获得不同提离高度下的检测信号时域曲线并且在被测试件无缺陷位置处获得无提离高度的参考信号时域曲线，并对检测信号和参考信号的...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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