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一种成像系统(100)包括发射横穿检查区域的辐射的辐射源(112)和具有检测横穿检查区域的辐射并分别地产生指示所检测的辐射的信号的多个光子计数检测器像素(116)的检测器阵列(114)。光子计数检测器像素包括具有第一辐射接收侧(202)和第...该专利属于皇家飞利浦电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过皇家飞利浦电子股份有限公司授权不得商用。
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一种成像系统(100)包括发射横穿检查区域的辐射的辐射源(112)和具有检测横穿检查区域的辐射并分别地产生指示所检测的辐射的信号的多个光子计数检测器像素(116)的检测器阵列(114)。光子计数检测器像素包括具有第一辐射接收侧(202)和第...