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本发明公开一种将测试信号注入具有正常高逻辑电平和正常低逻辑电平的数据总线(17)中的故障注入电路(34)。测试信号具有大于数据总线(17)的正常高逻辑电平的较大的逻辑电平或低于数据总线(17)的正常低逻辑电平的较小的逻辑电平。模数转换器(3...
该专利属于迪尔公司所有，仅供学习研究参考，未经过迪尔公司授权不得商用。

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