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本发明提供了一种光子共振器件、光子共振检测系统及其检测方法。所述光子共振器件包括：衬底；以及衬底上形成的波导层，其特征在于，在波导层上形成有一个或多个通道，每个通道包括具有相邻共振条件的多个单元，以及当光子共振器件在共振条件下被照射时，入射...
该专利属于香港科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过香港科技大学授权不得商用。

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