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键盘测试机测试头移动机构制造技术
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文档序号:9170434
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本发明公开了一种键盘测试机测试头移动机构,包括X轴移动平台,Y轴移动机构以及Z轴升降机构,其特征在于,还包括数个X轴微调装置,所述X轴微调装置固定于所述Y轴移动机构上,所述Y轴移动机构底座与固定于X轴移动平台上的Z轴升降机构连接,所述X轴移...
该专利属于苏州日和科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州日和科技有限公司授权不得商用。
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