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本实用新型公开了一种基于时基集成芯片的简易光耦检测仪，包括被测光耦、时基集成芯片、第一至第四电阻、第一和第二电容，以及发光二极管。本实用新型采用时基集成芯片以及周边几个电阻电容，简单有效制成专用检测光耦的工具，根据发光二极管的发光或者不发光...
该专利属于成都掌握移动信息技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都掌握移动信息技术有限公司授权不得商用。

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